在晶圆制造过程中，制程偏差是导致良率损失的主要因素之一，其典型表现即为晶圆上Die的区域性集群失效。此类失效并非随机分布，而是...

如今国内半导体产业加速推进国产替代，选择具备自主技术、贴合各类生产工况的良率管理系统供应商尤为关键。上海伟诺信息自主研发的YMS系...

在半导体行业工艺迭代日趋复杂的大环境下，良率管理系统YMS已经成为各家企业打造竞争实力的重要载体。该系统能够全天候抓取、监测工厂海...

测试程序迭代牵一发而动全身，微小版本偏差，就会造成数万颗芯片测试结果失真，因此程序全生命周期管控必须严谨可控。上海伟诺TMS搭建标...

测试数据出现失真、错误会造成良率判定结果偏离真实情况，衍生不必要重复测试、错误工艺调整等问题，同步浪费原材料与生产工时。YMS系统...