在晶圆制造过程中，制程偏差是导致良率损失的主要因素之一，其典型表现即为晶圆上Die的区域性集群失效。此类失效并非随机分布，而是...

如今国内半导体产业加速推进国产替代，选择具备自主技术、贴合各类生产工况的良率管理系统供应商尤为关键。上海伟诺信息自主研发的YMS系...

在半导体行业工艺迭代日趋复杂的大环境下，良率管理系统YMS已经成为各家企业打造竞争实力的重要载体。该系统能够全天候抓取、监测工厂海...

测试程序迭代牵一发而动全身，微小版本偏差，就会造成数万颗芯片测试结果失真，因此程序全生命周期管控必须严谨可控。上海伟诺TMS搭建标...

测试数据出现失真、错误会造成良率判定结果偏离真实情况，衍生不必要重复测试、错误工艺调整等问题，同步浪费原材料与生产工时。YMS系统...

半导体行业上下游协同过程中，芯片设计企业与封测代工厂商长期存在信息交互壁垒，不但拉高双方沟通成本，还会拉长故障处理周期。搭建一体化...

每日晨会前临时整理良率报表，常因数据口径不一引发争议。YMS系统按预设模板自动生成日报、周报、月报，内容涵盖良率趋势、区域缺陷分布...

在推进数字化转型过程中，制造企业常面临测试数据孤岛、分析滞后等挑战。YMS打通从数据采集、清洗、整合到可视化分析的全链路：自动接入...

针对工厂规模化量产的复杂管控场景，单一维度数据统计与人工制表分析模式，已无法满足全厂全局质量管控与良率优化需求。上海伟诺信息科技Y...