上海伟诺信息科技有限公司成立于2019年,坐落于上海松江。专注于半导体行业系统软件,服务于半导体设计公司及封测厂. 基于完全自主开发的Winner DevPro开发平台,开发了适用于半导体设计公司的ERP系统、运营管理系统、项目管理系统、测试质量管理系统;半导体封测工厂MES、工程质量管理系统、测试大数据分析和车规Map管理系统。为客户提供各种标准化和定制化系统级软件的整解决方案。
随着客户对产品可追溯性要求的不断提升,传统纸质或半手工记录已难以满足严格的审计需求。MES系统在投料、测试、封装、包装各环节自动生...
随着客户对产品可追溯性要求的不断提升,传统纸质或半手工记录已难以满足严格的审计需求。MES系统在投料、测试、封装、包装各环节自动生...
在半导体制造的后段工艺流程中,对晶圆测试(CP)阶段生成的Mapping图进行PAT(Part Average Testing)处...
当封测厂每日面对来自数十台测试机台的海量异构数据时,传统手工汇总方式已难以满足实时质量管控需求。YMS系统通过自动化流程,即时采集...
YMS(良率管理系统)的本质是将海量测试数据转化为精确的质量决策依据。系统兼容ETS88、J750、ASL1000、Chroma等...
在半导体工厂高频率、多设备并行的测试环境中,人工处理异构数据极易延误问题响应。YMS系统通过自动化流程,实时汇聚来自STS8200...
面对客户日益增长的定制化需求,封测厂必须在维持大规模量产效率的同时,具备高度柔性执行能力。MES系统通过灵活的BOM管理机制,支持...
在晶圆制造过程中,制程偏差是导致良率损失的主要因素之一,其典型表现即为晶圆上Die的区域性集群失效。此类失效并非随机分布,而是...
过去,国内半导体企业常因缺乏本地化良率分析工具,被迫采购昂贵的国外软件,且难以适配国产Tester设备。YMS系统自动采集ETS8...