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在工艺复杂度日益攀升的半导体制造业中，良率管理系统（YMS）已成为企业构筑关键竞争力的关键一环。它通过实时采集、监控与分析海量生产...
在复杂的测试场景中，硬件配置的微小差异，如探针卡型号、测试底座版本、电源设置或温度控制等，都可能对测试结果产生明显影响。测试管理系...
评估一套MES系统是否真正适用，关键不在于功能清单的长短，而在于其能否覆盖从计划下达、生产执行到成品交付全过程中的关键控制点，并形...
测试数据的监控是保障产品质量的生命线，其有效性取决于能否在问题发生的及时做出反应。构建全天候的自动化监控体系，通过稳定的数据接口，...
当测试工程师面对来自ETS88、J750、93k等多台设备输出的stdf、log、jdf等格式混杂的原始数据时，传统人工清洗往往需...
当某批晶圆进入关键封装工序时，若因设备参数漂移、温控偏差或Q-Time超限未被及时干预，极有可能导致整批产品电性性能不达标，造成重...
面对日益复杂的半导体制造环境，测试管理系统的选型不再限定于功能罗列，而是对企业长期运营效率的战略投资。一个高效的系统不仅能降低人力...
良率管理系统的价值不仅在于技术实现，更在于对半导体企业关键痛点的精确回应。当设计公司或制造工厂面临测试数据分散、格式混乱、分析滞后...
上海伟诺信息科技有限公司成立于2019年，坐落于上海松江。专注于半导体行业系统软件，服务于半导体设计公司及封测厂. 基于完全自主开发的Winner DevPro开发平台，开发了适用于半导体设计公司的ERP系统、运营管理系统、项目管理系统、测试质量管理系统；半导体封测工厂MES、工程质量管理系统、测试大数据分析和车规Map管理系统。为客户提供各种标准化和定制化系统级软件的整解决方案。
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