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  • 什么是晶圆缺陷检测设备?晶圆缺陷检测设备是一种用于检测半导体晶圆表面缺陷的高精度仪器。晶圆缺陷检测设备的主要功能是在晶圆制造过程中,快速、准确地检测出晶圆表面的缺陷,以保证晶圆的质量和可靠性。晶圆缺陷...

  • 自动电阻率测量仪采购 发布时间:2023.08.26

    电阻率测量仪:Delcom通过涡流技术,非接触、无损测量静态或动态的导电材料物体的方阻。Delcom能做到瞬时读数,提供实时工序检查。测量方阻的范围从0.005到10万欧姆/平方(具体的测试范围需要提...

  • 晶圆缺陷检测光学系统在自动化生产中的优势有以下几点:1、高效性:晶圆缺陷检测光学系统采用高速图像处理技术,能够快速准确地检测晶圆表面的缺陷,提高了生产效率。2、精确性:晶圆缺陷检测光学系统能够检测到微...

  • 电容式位移传感器使用方法:1. 安装传感器:将传感器安装在需要测量位移或形变的物体上,并确保传感器的位置准确、固定和稳定。2. 连接传感器:根据传感器的型号和连接方式,将传感器输出信号与接收设备连接。...

  • AVI 系列隔振台美元价 发布时间:2023.08.14

    LFS-2传感器测量两个轴的水平加速度,直至频率为约0.2Hz传感器直接放置在地板上,并用于前馈回路中与标准AVI/LP系统结合使用,可在非常低的情况下提高隔振效果频率。LFS-2可以改装为现有的AV...

  • 电阻率测量仪如何选购?需要注意哪些?1.应用领域:在进行选择时,首先要确认要测试的材料类型以及应用领域,这是选择电阻率测量仪的关键。例如,如果需要测试塑料或橡胶等绝缘材料的电阻率,则需要选择一个专门用...

  • 青海进口键合机 发布时间:2023.08.02

    键合机特征 高真空,对准,共价键合 在高真空环境(<5·10-8mbar)中进行处理 原位亚微米面对面对准精度 高真空MEMS和光学器件封装原位表面和原生氧化物去除 优异的表面性能 导电键合 室温过程...

  • 电阻率测量仪是如何工作的? 电阻率测量仪主要用于测量材料的电阻率,工作原理:电阻率测量仪将被测试的材料置于一个恒定的电场中(通常是两个电极之间的电场),然后经过一段时间后,测量电流和电势差。电流是通过...

  • 薄膜测厚仪膜厚仪芯片行业 发布时间:2023.07.27

    接触探头测量弯曲和难测的表面CP-1-1.3测量平面或球形样品,结实耐用的不锈钢单线圈。CP-1-AR-1.3可以抑制背面反射,对1.5mm厚的基板可抑制96%。钢制单线圈外加PVC涂层,蕞大可测厚度...

  • 晶圆片膜厚仪参数 发布时间:2023.07.25

    不管是参与对显示器的基础研究还是制造,Thetametrisis都能够提供您所需要的...测量液晶层-聚酰亚胺、硬涂层、液晶、间隙测量有机发光二极管层-发光、电注入、缓冲垫、封装对于空白样品,我们建议...

  • 高精度电容位移传感器的参数特点:测量范围:±10微米至±1毫米(在某些情况下,可能高达25毫米);测量分辨率:<1纳米至50纳米;线性度:满刻度范围低至0.02%;稳定性:系统可用于需要数周或数月稳定...

  • 晶圆缺陷检测光学系统是一种通过光学成像技术来检测晶圆表面缺陷的设备。其主要特点包括:1、高分辨率:晶圆缺陷检测光学系统采用高分辨率镜头和成像传感器,可以获得高精度成像结果,检测出微小缺陷。2、宽视场角...

  • 电阻率测量仪具有哪些性能特点?1. 高精度性能:电阻率测量仪具有高精度的电阻率测量,能够在极短的时间内准确测量出被测样品的电阻率,测试的结果明确、真实可靠。2. 实时性强:电阻率测量仪的反应速度较快,...

  • 如何正确使用薄膜应力分析仪?1. 准备样品:首先,需要准备好样品。样品应该比仪器夹具略大,以确保能够被夹紧。确保样品表面是平坦和干净的,没有灰尘、油脂等杂质。2. 安装样品:将样品轻轻放在夹具上,判断...

  • 甘肃晶圆缺陷检测系统定制 发布时间:2023.07.17

    晶圆缺陷检测设备的使用有哪些注意事项?晶圆缺陷检测设备是一种非常精密的仪器,使用时需要注意以下几点:1、设备应该放置在干燥、无尘、温度适宜的地方,避免影响设备的正常运行。2、在使用设备前应该认真阅读使...

  • 电阻率测量仪性能特点:多参数同屏显示:电阻率、温度同屏显示。微机化:采用高性能CPU芯片、高精度AD转换技术和SMT贴片技术完成电阻率和温度的测量、温度补偿、量程自动转换,精度高,重复性好。高可靠性:...

  • 位移传感器有什么特点?1、位移传感器无需反射镜即可测出实物之间的距离;2、增加过滤镜即可测量高温物体;3、加装防爆箱可在防爆环境下使用;4、增加摆动电机,可以用来2D轮廓测量;5、可见光方便瞄准被测物...

  • 海南键合机推荐产品 发布时间:2023.07.12

    晶圆级封装在封装方式上与传统制造不同。该技术不是将电路分开然后在继续进行测试之前应用封装和引线,而是用于集成多个步骤。在晶片切割之前,将封装的顶部和底部以及焊锡引线应用于每个集成电路。测试通常也发生在...

  • 晶圆缺陷检测光学系统相比传统的检测方法具有以下优势:1、高效性:晶圆缺陷检测光学系统能够实现自动化检测,大幅提高了检测效率和准确性。2、精度高:晶圆缺陷检测光学系统采用高分辨率的光学成像技术,可以对微...

  • 三维芯片键合机应用 发布时间:2023.07.10

    EVG®850LT特征利用EVG的LowTemp™等离子基活技术进行SOI和直接晶圆键合适用于各种熔融/分子晶圆键合应用生产系统可在高通量,高产量环境中运行盒到盒的自动操作(错误加载,SMIF或FOU...

  • 河北自动电阻率测量设备 发布时间:2023.07.09

    电阻率测量仪有哪些主要部件?电阻率测量仪主要部件:1. 电源:提供测试电路所需的电能,通常是交流或直流电源。2. 电极:将电源与被测材料的接口,通常是两个导电材料,放置在待测材料两端的电极。3. 读数...

  • 位移传感器又称为线性传感器,是一种属于金属感应的线性器件,传感器的作用是把各种被测物理量转换为电量。在生产过程中,位移的测量一般分为测量实物尺寸和机械位移两种。按被测变量变换的形式不同,位移传感器可分...

  • 高精度电容位移传感器的安装和使用注意事项:1. 安装时,应选择一个稳定、平整的表面或安装座,确保传感器和被测物体之间的距离精度符合要求。2. 传感器的两个电极之间需要接通信号线和电源线。应注意线路的质...

  • 河南智能晶圆缺陷检测设备 发布时间:2023.07.07

    使用晶圆缺陷检测光学系统的主要意义:1、保证产品质量:晶圆缺陷检测光学系统可以快速和准确地检测晶圆表面的缺陷和污染物,可以在加工之前找到和处理所有的表面缺陷以保证制造的所有元器件品质完好,避免设备故障...

  • 薄膜应力分析仪使用过程中需要注意什么?1.样品必须干净,无油污、尘土等杂质。在样品处理过程中,需要避免使用对薄膜有影响的酸、碱等溶剂。2. 需要保持测试环境的温度、湿度、气氛、尘埃等在一定的范围内,避...

  • 晶圆缺陷自动检测设备的原理是什么?晶圆缺陷自动检测设备的原理主要是利用光学、图像处理、计算机视觉等技术,对晶圆表面进行高速扫描和图像采集,通过图像处理和分析技术对采集到的图像进行处理和分析,确定晶圆表...

  • 位移传感器是一种测量物体或构件位置和方向的传感器,用于测量在直线和/或角位移方向上的物理运动,可用于各种应用,包括:1. 机械加工行业:用于测量机器的精度和位置,以确保产品的精度和质量。同时,还可用于...

  • 安徽金属膜电容位移传感器 发布时间:2023.07.03

    高精度电容位移传感器选型需要注意什么?1. 测量范围。首先需要考虑需要测量的位移范围,以选择合适的传感器型号和量程。如果位移范围过大,需要选择大量程的传感器,如果位移范围过小,需要选择小量程的传感器,...

  • 甘肃键合机现场服务 发布时间:2023.07.03

    EVG®850TB 自动化临时键合系统 全自动将临时晶圆晶圆键合到刚性载体上 特色 技术数据 全自动的临时键合系统可在一个自动化工具中实现整个临时键合过程-从临时键合剂的施加,烘焙,将设备晶圆与载体晶...

  • 电阻率测量仪的测量原理是什么? 电阻率测量仪的测量原理是基于欧姆定律:U = I * R,其中U是材料两端的电势差,I是通过材料的电流,R是材料的电阻。电阻率是指材料的电阻与其尺寸、几何形状和导电性能...

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