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企业商机 - 岱美仪器技术服务(上海)有限公司
  • HerzLowFrequencySensor(LFS-3)低频感应器LFS-3性能LFS-3感应器测试水平和垂直方向加速度3轴的频率低到0.2Hz.感应器直接放到地板上和AVI系列产品连在组成一个正向...

  • 官方键合机原理 发布时间:2023.10.29

    EVG®820层压系统 将任何类型的干胶膜(胶带)自动无应力层压到晶圆上 特色 技术数据 EVG820层压站用于将任何类型的干胶膜自动,无应力地层压到载体晶片上。这项独特的层压技术可对卷筒上的胶带进行...

  • 电阻率测量仪可以为企业带来哪些益处?电阻率测量仪是一种高精度、实时性强、操作简单的电子测试设备,对于企业而言,它可以带来以下益处:1. 提高生产效率:电阻率测量仪能够实现快速、准确的电阻率测量。在生产...

  • 防震台隔振台轮廓测量应用 发布时间:2023.10.22

    AVI400-MAVI400-M的基本配置包括两个紧凑型隔振模块和一个控制单元,最大负载为800公斤。通过增加紧凑型单元的数量,可以轻松实现对更高负载的支持。为了使AVI400-M适应用户特定的应用,...

  • 湖南晶圆缺陷检测系统售价 发布时间:2023.10.19

    晶圆缺陷检测光学系统通常由以下部分组成:1、光源:光源是光学系统的基础,在晶圆缺陷检测中通常使用的是高亮度的白光或激光光源。2、透镜系统:透镜系统包括多个透镜,用于控制光线的聚散和形成清晰的影像,从而...

  • 晶圆内部缺陷检测设备报价 发布时间:2023.10.15

    晶圆缺陷检测设备如何提高检测率和准确性?1、选择高质量的检测设备:选择具有高灵敏度和高分辨率的设备,以确保能够检测到更小和更细微的缺陷。2、优化检测算法:利用先进的算法和模型,对数据进行更准确的分析和...

  • 光学显微镜隔振台国内用户 发布时间:2023.10.12

    技术指标:频率负载范围尺寸0,7-1000Hz0-140公斤500x600x84毫米隔离:动态(超过1kHz)透射率:参见附件曲线10Hz以上的透射率<(-40dB)矫正力:垂直+/-8N水平+/-4...

  • 薄膜应力分析仪如何安装?薄膜应力分析仪需要放置在通风良好、干燥、稳定的环境中。同时,设备应该远离震动、噪声和温度波动过大的地方,以保证测试结果的准确度。在安装设备时需要先打扫好设备安装区域,确保该区域...

  • 晶圆缺陷检测光学系统常用的成像技术有哪些?1、显微镜成像技术:利用显微镜观察晶圆表面的缺陷,可以得到高分辨率的图像,适用于检测微小的缺陷。2、光学显微镜成像技术:利用光学显微镜观察晶圆表面的缺陷,可以...

  • 使用晶圆缺陷检测光学系统的主要意义:1、保证产品质量:晶圆缺陷检测光学系统可以快速和准确地检测晶圆表面的缺陷和污染物,可以在加工之前找到和处理所有的表面缺陷以保证制造的所有元器件品质完好,避免设备故障...

  • 甘肃CMOS键合机 发布时间:2023.09.16

    临时键合系统:临时键合是为薄晶圆或超薄晶圆提供机械支撑的必不可少的过程,这对于3DIC,功率器件和FoWLP晶圆以及处理易碎基板(例如化合物半导体)非常重要。借助于中间临时键合粘合剂将器件晶片键合到载...

  • 晶圆缺陷自动检测设备 发布时间:2023.09.10

    晶圆缺陷检测设备的使用有哪些注意事项?晶圆缺陷检测设备是一种非常精密的仪器,使用时需要注意以下几点:1、设备应该放置在干燥、无尘、温度适宜的地方,避免影响设备的正常运行。2、在使用设备前应该认真阅读使...

  • 湖南EVG560键合机 发布时间:2023.09.10

    EVG320技术数据晶圆直径(基板尺寸)200、100-300毫米清洁系统开室,旋转器和清洁臂腔室:由PP或PFA制成(可选)清洁介质:去离子水(标准),其他清洁介质(可选)旋转卡盘:真空卡盘(标准)...

  • 隔振台TS-140+40的技术指标:频率负载范围尺寸:0,7-1000Hz50-180公斤500x600x84毫米隔离:动态(超过1kHz)传递率:参见附件曲线10Hz以上的透射率<(-40dB)矫正...

  • AVI-600系列(负载:1200kg)型号:AVI-600SLP,AVI-600MLP,AVI-600XLP形状:控制器与防振单元分离型主动控制范围:被动隔振范围200Hz以上确认防振状态:使用控制...

  • 中国香港键合机可以试用吗 发布时间:2023.09.05

    真空系统:9x10-2mbar(标准)和9x10-3mbar(涡轮泵选件) 清洁站 清洁方式:冲洗(标准),超音速喷嘴,超音速面积传感器,喷嘴,刷子(可选) 腔室:由PP或PFA制成(可选) 清洁介质...

  • AVI单元和传感器的方向隔离单元和LFS传感器必须正确安装,这一点很重要取向!LFS控制单元上的每个D-Sub15插座都有4个对应于AVI的开关输出以任意4个矩形方向(即平行或成直角)放置的元素。不允...

  • 电阻率测量仪的测量结果精度受什么因素影响? 1. 温度影响:材料的温度变化会影响材料的电阻值,从而影响电阻率测量仪的测量结果。因此,对于对温度敏感的材料,需要使用带有恒温控制功能的电阻率测量仪。2. ...

  • 江西键合机有谁在用 发布时间:2023.09.03

    晶圆级封装在封装方式上与传统制造不同。该技术不是将电路分开然后在继续进行测试之前应用封装和引线,而是用于集成多个步骤。在晶片切割之前,将封装的顶部和底部以及焊锡引线应用于每个集成电路。测试通常也发生在...

  • 宁夏键合机芯片堆叠应用 发布时间:2023.09.02

    真空系统:9x10-2mbar(标准)和9x10-3mbar(涡轮泵选件) 清洁站 清洁方式:冲洗(标准),超音速喷嘴,超音速面积传感器,喷嘴,刷子(可选) 腔室:由PP或PFA制成(可选) 清洁介质...

  • 晶圆缺陷检测光学系统的优点主要包括:1、高精度:晶圆缺陷检测光学系统采用高分辨率、高灵敏度的光学成像技术,能够快速准确地检测出微小的缺陷和瑕疵。2、可靠性高:晶圆缺陷检测光学系统采用非接触高精度测量技...

  • 当地价格键合机国内用户 发布时间:2023.08.31

    EVG®620BA键合机选件 自动对准 红外对准,用于内部基板键对准 NanoAlign®包增强加工能力 可与系统机架一起使用 掩模对准器的升级可能性 技术数据 常规系统配置 桌面 系统机架:可选 隔...

  • 在半导体生产过程中,晶圆缺陷检测设备主要起到以下几个方面的作用:1、质量控制:晶圆缺陷检测设备可以检测晶圆表面的细小缺陷,帮助企业及时发现生产过程中的缺陷,并及时掌握生产质量水平,以确保产品质量。2、...

  • 什么是晶圆缺陷检测设备?晶圆缺陷检测设备是一种用于检测半导体晶圆表面缺陷的高精度仪器。晶圆缺陷检测设备的主要功能是在晶圆制造过程中,快速、准确地检测出晶圆表面的缺陷,以保证晶圆的质量和可靠性。晶圆缺陷...

  • 位移传感器又称为线性传感器,是一种属于金属感应的线性器件,传感器的作用是把各种被测物理量转换为电量。在生产过程中,位移的测量一般分为测量实物尺寸和机械位移两种。按被测变量变换的形式不同,位移传感器可分...

  • 高精度电容位移传感器的产品特点:1.高精度:电容位移传感器的测量精度高,一般可达到微米或亚微米级别。2.高灵敏度:电容位移传感器的灵敏度高,能够检测到非常微小的位移或形变。3.高速响应:电容位移传感器...

  • 自动电阻率测量仪采购 发布时间:2023.08.26

    电阻率测量仪:Delcom通过涡流技术,非接触、无损测量静态或动态的导电材料物体的方阻。Delcom能做到瞬时读数,提供实时工序检查。测量方阻的范围从0.005到10万欧姆/平方(具体的测试范围需要提...

  • 美元报价键合机可以试用吗 发布时间:2023.08.26

    EVG®501晶圆键合机(系统) ■研发和试生产的蕞/低 购置成本 ■真正的低强度晶圆楔形补偿系统,可实现蕞/高产量 ■强劲的压力和温度均匀性 ■自动键合和数据记录 ■高真空键合室 (使用真空涡轮增压...

  • 使用位移传感器的注意事项:1、传感器的供电情况,如果位移传感器供电电源容量不足,就会造成以下的情况:熔胶的运动会使合模电子尺的显示变换,有波动,或者合模的运动会使射胶电子尺的显示波动,造成测量误差变大...

  • 晶圆缺陷检测光学系统在自动化生产中的优势有以下几点:1、高效性:晶圆缺陷检测光学系统采用高速图像处理技术,能够快速准确地检测晶圆表面的缺陷,提高了生产效率。2、精确性:晶圆缺陷检测光学系统能够检测到微...

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