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企业商机 - 岱美仪器技术服务(上海)有限公司
  • 氮化镓纳米压印研发生产 发布时间:2024.04.03

    EVGROUP®|产品/纳米压印光刻解决方案纳米压印光刻的介绍:EVGroup是纳米压印光刻(NIL)的市场领仙设备供应商。EVG开拓了这种非常规光刻技术多年,掌握了NIL并已在不断增长的基板尺寸上实...

  • 超纳轮廓仪美元价格 发布时间:2024.04.01

    轮廓仪的和新团队夏勇博士,江苏省双创人才15年ADE,KAL-Tencor半导体检测设备公司研发、项目管理经验SuperSightInc.CEO/共同创始人,太阳能在线检测设备唐寿鸿博士,国家千人**...

  • 高精度电容位移传感器出现故障如何解决?1. 检查连接:首先,需要检查传感器的连接是否正确、接头是否松动等,排除可能的连接问题。2. 排除电源故障:检查传感器的电源是否正常供电,是否存在供电不稳定的情况...

  • 美国轮廓仪测样 发布时间:2024.03.21

    轮廓仪的主要客户群体300mm集成电路技术封装生产线检测集成电路工艺技术研发和产业化国家重点实验室高效太阳能电池技术研发、产业化MEMS技术研发和产业化新型显示技术研发、产业化超高精密表面工程技术轮廓...

  • 官方键合机优惠价格 发布时间:2024.03.17

    Abouie M 等人[4]针对金—硅共晶键合过程中凹坑对键合质量的影响展开研究,提出一种以非晶硅为基材的金—硅共晶键合工艺以减少凹坑的形成,但非晶硅的实际应用限制较大。康兴华等人[5]加工了简单的多...

  • 选购电阻率测量仪的时候需要注意什么?1. 测量范围:不同型号的电阻率测量仪有不同的测量范围,需要根据实际需要选择适合的型号。2. 测量精度:电阻率测量仪的测量精度直接影响测试结果的准确性,因此需要选择...

  • 轮廓仪、粗糙度仪、三坐标的区别关于轮廓仪和粗糙度仪轮廓仪与粗糙度仪不是同一种产品,轮廓仪主要功能是测量零件表面的轮廓形状,比如:汽车零件中的沟槽的槽深、槽宽、倒角(包括倒角位置、倒角尺寸、角度等),圆...

  • 电阻率测量仪可以为企业带来哪些益处?电阻率测量仪是一种高精度、实时性强、操作简单的电子测试设备,对于企业而言,它可以带来以下益处:1. 提高生产效率:电阻率测量仪能够实现快速、准确的电阻率测量。在生产...

  • 选购薄膜应力分析仪时需要注意哪些因素?1. 测量范围和精度:薄膜应力分析仪的测量范围和精度是重要指标之一,需要根据实际需要选择合适的测量范围和精度,以确保测量结果的准确性和可靠性。2. 测量速度:薄膜...

  • 测厚仪膜厚仪有哪些品牌 发布时间:2024.03.04

    生物医疗设备涂层应用生物医疗器械应用中的涂层生物医疗器械的制造和准备方面会用到许多类型的涂层。有些涂层是为了保护设备免受腐蚀,而其他的则是为了预防组织损伤、敢染或者是排异反应。药物传输涂层也变得日益普...

  • 中科院光刻机特点 发布时间:2024.02.28

    EVG120光刻胶自动处理系统:智能过程控制和数据分析功能(框架软件平台)用于过程和机器控制的集成分析功能并行任务/排队任务处理功能设备和过程性能根踪功能智能处理功能:事/故和警报分析/智能维护管理和...

  • 山东光刻机轮廓测量应用 发布时间:2024.02.21

    EVG6200NT特征:晶圆/基板尺寸从小到200mm/8''系统设计支持光刻工艺的多功能性在弟一次光刻模式下的吞吐量高达180WPH,在自动对准模式下的吞吐量高达140WPH易碎,薄或翘曲的多种尺寸...

  • 实验室光刻机代理商 发布时间:2024.02.20

    我们可以根据您的需求提供进行优化的多用途系统。我们的掩模对准系统设计用于从掩模对准到键合对准的快速简便转换。此外,可以使用用于压印光刻的可选工具集,例如UV-纳米压印光刻,热压印或微接触印刷。所有系统...

  • 晶圆缺陷检测光学系统如何进行数据处理和分析?晶圆缺陷检测光学系统进行数据处理和分析通常分为以下几个步骤:1、图像预处理:首先对采集到的缺陷图像进行预处理,包括去除噪声、调整图像亮度和对比度等。2、特征...

  • 参考材料备用BK7和二氧化硅参考材料。BG-Microscope显微镜系统内取背景反射的小型抗反光镜BG-F10-RT平台系统内获取背景反射的抗反光镜REF-Al-1mmSubstrate基底-高反射...

  • 电容式位移传感器具有哪些应用优势?电容式位移传感器应用优势:1. 测量精度高:电容式位移传感器具有很高的测量精度,测量范围适中,且可以达到亚微米级别的精度,适用于高精度测量场合。2. 灵敏度好:电容式...

  • 晶圆缺陷检测光学系统在半导体生产中扮演着非常重要的角色,其作用如下:1、检测晶圆缺陷:晶圆缺陷检测光学系统通过利用光学成像技术,可以检测晶圆表面的缺陷和污染物。这些缺陷包括磨损、划痕、光栅缺陷和雾点等...

  • 智能电阻率测量仪哪家实惠 发布时间:2024.02.03

    电阻率测量仪使用注意事项:1. 仪器操作前需进行正确的设置和连接,遵循检测规范,以保证测量数据的准确性。2. 在使用时要注意避免探针发生短路,同时保持探针与待测物的接触良好,避免测量不准或者出现异常波...

  • CSI轮廓仪竞争力怎么样 发布时间:2024.01.31

    轮廓仪是一种两坐标测量仪器,仪器传感器相对被测工件表而作匀速滑行,传感器的触针感受到被测表而的几何变化,在X和Z方向分别采样,并转换成电信号,该电信号经放大和处理,再转换成数字信号储存在计算机系统的存...

  • 轮廓测量仪轮廓仪技术原理 发布时间:2024.01.30

    如何正确使用轮廓仪准备工作1.测量前准备。2.开启电脑、打开机器电源开关、检查机器启动是否正常。3.擦净工件被测表面。测量1.将测针正确、平稳、可靠地移动在工件被测表面上。2.工件固定确认工件不会出现...

  • 工艺薄膜膜厚仪售后服务 发布时间:2024.01.28

    测量复杂的有机材料典型的有机发光显示膜包括几层: 空穴注入层,空穴传输层,以及重组/发光层。所有这些层都有不寻常有机分子(小分子和/或聚合物)。虽然有机分子高度反常色散,测量这些物质的光谱反射充满挑战...

  • 广西键合机国内用户 发布时间:2024.01.26

    EVG®301特征使用1MHz的超音速喷嘴或区域传感器(可选)进行高/效清洁单面清洁刷(选件)用于晶圆清洗的稀释化学品防止从背面到正面的交叉污染完全由软件控制的清洁过程选件带有红外检查的预键合台非SE...

  • 晶圆薄膜应力分析仪批发 发布时间:2024.01.26

    薄膜应力分析仪的使用要点:1. 样品制备:样品制备是薄膜应力分析仪测试中非常重要的步骤,必须确保薄膜完全贴附在衬底表面上,没有气泡和杂质存在。2. 仪器操作:正确的仪器操作非常重要,必须严格按照使用说...

  • 四川碳化硅纳米压印 发布时间:2024.01.22

    EVG®770分步重复纳米压印光刻系统分步重复纳米压印光刻技术,可进行有效的母版制作EVG770是用于步进式纳米压印光刻的通用平台,可用于有效地进行母版制作或对基板上的复杂结构进行直接图案化。这种方法...

  • Filmetrics F32膜厚仪推荐厂家 发布时间:2024.01.22

    F3-CS:快速厚度测量可选配FILMeasure厚度测量软件使厚度测量就像在平台上放置你的样品一樣容易,软件內建所有常见的电介质和半导体层(包括C,N和HT型聚对二甲苯)的光学常数(n和k),厚度结...

  • 江西薄膜应力分析仪 发布时间:2024.01.20

    薄膜应力分析仪使用过程中需要注意什么?1.样品必须干净,无油污、尘土等杂质。在样品处理过程中,需要避免使用对薄膜有影响的酸、碱等溶剂。2. 需要保持测试环境的温度、湿度、气氛、尘埃等在一定的范围内,避...

  • 实验室纳米压印推荐厂家 发布时间:2024.01.19

    EVG®7200LA特征:专有SmartNIL®技术,提供了无人能比的印迹形大面积经过验证的技术,具有出色的复制保真度和均匀性多次使用的聚合物工作印模技术可延长母版使用寿命并节省大量成本强大且精确可控...

  • 更可加装至三个探头,同时测量三个样品,具紫外线区或标准波长可供选择。F40:這型號安裝在任何顯微鏡外,可提供*小5um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。F50:這型號配備全自動XY工作台,由8"...

  • 介电材料膜厚仪国内代理 发布时间:2024.01.18

    Filmetrics的技术Filmetrics提供了范围广范的测量生物医疗涂层的方案:支架:支架上很小的涂层区域通常需要显微镜类的仪器。我们的F40在几十个实验室内得到使用,测量钝化和/或药物输送涂层...

  • 晶圆缺陷检测设备的安装步骤如下:1、确定设备安装位置:根据设备的大小和使用要求,选择一个空间充足、通风良好、无振动、温湿度稳定的地方进行安装。2、准备安装环境:对于需要特殊环境的设备(例如光学器件),...

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