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上海验收测试系统方案

来源: 发布时间:2024年12月15日

测试仪能够把好电路板上的各IC器件的状态特征提取出来,存入计算机的数据库中,然后与同类有故障的电路板进行比较,从而准确地找出故障部位。VI特性测试分析该项测试功能建立在模拟特征分析技术基础上,可用于模拟、数字、专门使用器件、可编程器件以及大规模、超大规模器件的测试。测试仪通过测试探棒或测试夹自动把被测点的特征曲线提取出来,显示在微机屏幕上,较后存入计算机。进特故障诊断时,将实测到的VI曲线与事先存贮的标准曲线进行比较,进而发现故障。通用自动功能测试系统适用于多种设备的功能性验证。上海验收测试系统方案

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测试方式选择(TMS)用来加载控制信息;其次定义了由TAP控制器支持的几种不同测试模式,主要有外测试(EXTEST)、内测试(INTEST)、运行测试(RUNTEST);较后提出了边界扫描语言(Boundary Scan Description Language),BSDL语言描述扫描器件的重要信息,它定义管脚为输入、输出和双向类型,定义了TAP的模式和指令集。具有边界扫描的器件的每个引脚都和一个串行移位寄存器(SSR)的单元相接,称为扫描单元,扫描单元连在一起构成一个移位寄存器链,用来控制和检测器件引脚。其特定的四个管脚用来完成测试任务。上海验收测试系统方案电池测试:针对各类电池性能进行检测,确保其可靠性和安全性。

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操作系统,可供电路板测试选择的操作系统很多,例如UNIX、OS、Windows、Solaris等,选择操作系统时受限于硬件设备的支持、程序人员的技术水平、操作系统的普及程度和操作系统本身特点等诸多因素,趋于采用广为普及的Windows操作系统。总线技术,电路板测试技术的发展与仪器控制总线的发展永远是密切相关的,仪器控制总线的每一次更新都促进电路板测试技术的更新。仪器控制总线有GPIB总线、VXI总线和PXI总线三种,它们是发展过程中依次出现的总线技术,表示着电路板测试技术的发展历程。GPIB总线是早期出现的仪器接口控制总线,多用于常见的台式仪器上,采用该总线集成的系统体积大、数据传输速率低(较大数据传输速率为1MB/s)且同一系统总线上较多可连15台仪器。

ICT测试要做到故障定位准、测试稳定,与电路和PCB设计有很大关系。原则上我们要求每一个电路网络点都有测试点。电路设计要做到各个器件的状态进行隔离后,可互不影响。对边界扫描、Nand-Tree的设计要安装可测性要求。为了确保对电路板上的器件进行功能测试,就必须强制驱动器件的逻辑电平,各脚驱动器必须能够吸收或输出足够的电流。根据国际防护标准文件(00-53/1)所推荐的后驱动安全标准,测试仪的较大驱动电流被设计为240mA,测试时间在200ms以内。通过实验,基本能够较好地对被测器件进行隔离,同时也确保了被测器件的安全性。可靠性试验:模拟各种恶劣环境,验证电子设备在极端条件下的可靠性。

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边界扫描技术解决了无法增加测试点的困难,更重要的是它提供了一种简单而且快捷地产生测试图形的方法,利用软件工具可以将BSDL文件转换成测试图形,如Teradyne的Victory,GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解决编写复杂测试库的困难。用TAP访问口还可实现对如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在线编程(In-System Program或On Board Program)。4 Nand-TreeNand-Tree是Inter公司发明的一种可测性设计技术。在我司产品中,现只发现82371芯片内此设计。描述其设计结构的有一一般程*.TR2的文件,我们可将此文件转换成测试向量。 在线功能测试系统可实时检测产品功能。上海验收测试系统方案

软件测试:针对软件系统进行功能、性能、兼容性等多方面测试。上海验收测试系统方案

电压电流是否符合设计要求,一般来说电子加工厂的每块电路板通电之后都会有各种电压差、电流传导等数据,并且设计工程师会预留一些测试点,将这些测试点和ICT或FCT进行连接,就可以检测出板子的-个电压电流数据。烧录MCU程序后进行输入、输出检测,当电路板烧录MCU程序后,用户执行动作(比如长按开关3秒钟),MCU会发出逻辑命令控制电路的开关,从而实现设计要求。此种情况下,在线测试就可以检测这种动作输入输出是否正常。全功能测试,全功能测试在SMT加工中算是比较高级的测试了,要拟检测产品80%以上的主要功能,这种检测需要使用上位机来进行定制模仿用户操作从而检测产品的各个功能。上海验收测试系统方案

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