无锡电路板功能测试系统方案

嵌入式MCU的特点是执行速度快、操作简单，但这种实现方式的专门使用性较强不容易扩展。基于PLC的控制方式，其重点在于控制部分，测量功能相对较弱，比较适合以控制为主的场合。基于PC的控制方式使用较为普遍，它具有PC机价格低廉、数据处理功能强大、测试程序开发工具丰富等优点。由于UUT的输入输出管脚数量较多，信号种类复杂，为满足自动测试设备的通用性，在ITA设计时， 必须采用多通道开关，(1)是对PCB的信号通道进行自动切换；(2)是对PCB的信号进行调理，使调理后的信号能够满足测试仪器的量程范围；(3)是对PCB和测试仪器的保护，避免操作失误或外界干扰而对PCBA和测试设备造成损坏。通用自动测试系统：适用于多种电子设备，实现快速、高效的自动化测试。无锡电路板功能测试系统方案

VXI总线是VME工业计算机总线向仪器扩展后形成的计算机总线，采用该总线的系统的体积、通信速率介于GPIB总线系统和PXI总线系统之间，成本却是较高的。PXI总线是Compact PCI工业计算机总线向仪器扩展后形成的计算机总线，采用该总线的系统的体积较小，通信速率是比较高，而成本居中。PXI总线直接利用计算机PCI总线的技术成果，吸收了VXI总线的优点。总的来说，VXI总线仪器和PXI总线仪器性能相当，VXI总线仪器成本高，PXI总线仪器正在迅速发展过程中，多采用PXI总线集成系统。无锡电路板功能测试系统方案功能测试系统可帮助定位产品功能故障和改进设计。

测试仪主要功能，测试仪采用电路在线测试技术，可以用来在线或离线测试分析各种中小规模集成电路芯片的常见故障，测试模拟、数字器件的V/I特性。数字芯片的功能测试测试的基本原理是检测并记录芯片的输入/输出状态，将其记录的状态与标准的状态真值表进行比较，从而判断被测芯片功能是否正确。数字芯片的状态测试电路板上每个数字器件，在加电后都有三种状态特征：各管脚的逻辑状态（电源、地、高阻、信号等）、管脚之间的连接关系、输入输出之间的逻辑关系。当器件发生故障后，其状态特征一般都要发生变化。

仪器仪表及其发展历程，头一代仪器仪表是指针式的，如实验室中至今还在使用的指针式万用表、电压表、电流表、功率表等。这些仪表是基于电磁测量原理并用指针来指示侧得值。第二代仪器仪表是数字式的，这类仪器仪表适应于快速响应和高精度的要求目前这类仪器仪表已很普及。第三代仪器仪表:智能化仪器仪表。20世纪70年代初期，随着大规模集成电路制造技术的发展，人们发明了微处理器芯片。3年之后，美国便开始出售安装有微型计算机的分析仪器，例如IiP5830A色谱仪。从此仪器仪表的设计中几乎没有不考虑采用微型计算机的。在线功能测试系统可实时检测产品功能。

功能测试（FCT）一般专指PCBA上电后的测试，主要包括电压、电流、功率、功率因素、频率、占空比、亮度与颜色、字符识别、声音识别、温度测量、压力测量、运动控制、FLASH和EEPROM烧录等测试项目。自动化FCT测试设备大都基于开放式硬、软件体系结构设计，能够灵活地扩展硬件，快捷方便的建立测试程序；一般可以做到支持多种仪器，可以灵活的按需进行配置；而且要具有丰富的基本测试项目，较大可能地为用户提供通用、灵活、规范的解决方案。小型功能测试系统适用于空间受限的环境。无锡电路板功能测试系统方案

单元功能测试系统用于测试单一功能的设备。无锡电路板功能测试系统方案

先进的测试系统备有故障诊断程序包，可根据测试过程中得到的情报自动判断故障，故障发生时,能自动查找故障的位置。在测试未通过的情况下,自动测试系统从测试程序自动转换到诊断程序。自动故障诊断的方法大体上分为两类。①导引探测法：操作人员根据自动测试系统显示的探测指令逐点查找故障。②特征分析法：当被测节点特征不正确时，操作人员在程序指引下校验前面电路的特征。自动测试系统的可靠性是指它对被测对象误差和故障的检测能力。无锡电路板功能测试系统方案