在薄型、超薄型工件检测场景中，非接触式测厚仪性能远超接触式设备。半导体超薄晶圆、纳米级薄膜、微涂层工件厚度极小、结构脆弱，接触式设备的轻微按压就会造成工件弯折、凹陷、拉伸形变，不*破坏工件结构，还会让...

晶圆搬送机的性能与寿命与材料选择密切相关，厂家通过不断创新材料应用，进一步提升了设备的综合性能。在机械结构方面，采用碳纤维复合材料与度铝合金替代传统钢材，既减轻了设备重量，又提高了结构刚性与抗腐蚀能力...

晶圆搬送机秉持绿色低碳的设计理念，通过多项低功耗技术创新，助力半导体工厂实现绿色生产。设备采用高效节能的伺服驱动系统，相比传统异步电机，能耗降低 30% 以上，同时配备智能节能模式，在设备待机或轻负载...

针对 3D 封装中的多层薄膜结构（如光刻胶 + 氧化层 + 外延层），非接触式红外干涉测厚方案较电容式测厚仪展现出优势。电容式测厚仪基于 “电容值与厚度成反比” 的原理，能测量整体厚度，无法区分层间界...

非接触式测厚仪可适配半导体防潮涂层的厚度质控。半导体器件的防潮涂层是防护器件内部电路的重要结构，涂层厚度均匀性直接决定器件的防潮、防腐蚀能力，厚度不均容易出现局部防潮失效的问题。该设备以非接触方式完成...

半导体照明（LED 芯片、LED 封装件、驱动芯片）是半导体行业的重要应用领域，LED 芯片尺寸微小、发光区域精度要求高，LED 封装件引脚密集、尺寸精度影响发光效率，影像仪凭借高精度、非接触、多功能...

非接触式测厚仪对比接触式设备，长期检测精度保持效果更好。接触式设备随着使用时长增加，探头磨损、传动结构松动、配件老化等问题会逐步显现，检测精度持续衰减，需要频繁停机校准、更换配件，容易造成制程质控标准...

金属布线（铝线、铜线）失效是半导体器件最常见的失效模式之一，包括电迁移、电烧断、空洞、腐蚀、分层、尖刺等，金相显微镜在 FA 实验室中承担此类失效的直观表征任务。在电迁移失效中，显微镜可清晰观察到金属...

影像仪具备强大的多功能测量能力，突破传统测量设备的单一参数限制，可一次性完成几何尺寸、形位公差、轮廓形貌、缺陷检测等多维度参数测量，适配半导体工件结构复杂、参数繁多的检测需求。基础测量功能覆盖长度、角...

随着工业自动化与人工智能技术的发展，视频显微镜正在从传统的人工观察向智能视觉检测方向升级。新一代视频显微镜配备了高分辨率相机、大景深镜头、可编程光源以及 AI 图像识别算法，能够轻松实现外观缺陷自动检...

晶圆搬送机通过数据化管理功能，为半导体生产的全程追溯提供了可靠支撑，助力企业提升质量管理水平。设备内置数据采集模块，可实时记录每一次搬送的晶圆编号、工位信息、搬送时间、设备运行参数等数据，并通过以太网...

晶圆搬送机的应用场景贯穿半导体制造的全生命周期，从前端晶圆加工到后端封装测试均不可或缺。在晶圆制造厂的无尘车间中，它首先对接 FOUP 晶圆载盒，将未加工的晶圆从仓储区精细搬送至光刻设备，完成图案转移...