数模混合SoC、音频处理IC、触控MCU、工业采集芯片同时集成模拟电源轨、数字逻辑、高速波形接口、时序电路,单一功能板卡无法覆盖完整测试需求,企业需采购多套进口测试设备,系统集成复杂、采购...
技术迭代创新是推动导电阳极丝测试服务行业升级的主要动力,各类前沿技术的落地应用,正多角度重塑行业测试模式与服务能力。1.智能自动化测试深度普及依托人工智能技术的深度赋能,测试设备可实现试样...
MCU(微控制器,MicrocontrollerUnit)芯片作为嵌入式系统的主体,其战略地位和重要性在当今数字化、智能化的技术浪潮中愈发凸显。MCU广泛应用于汽车(占比约40%)、工业(...
HBM高带宽内存采用多层硅通孔TSV堆叠工艺,单颗堆叠芯片包含多层裸片,封装完成后若发现缺陷,整颗堆叠器件直接报废,成本极高;KGS裸片测试在堆叠前完成单颗裸片电性、带宽、导通测试,是先进...
针对AI端侧设备、智能穿戴、物联网微型终端搭载的低功耗微型模拟芯片,国磊ATE采用全浮动源架构设计,从硬件底层解决传统测试设备地回路干扰、漏电测量不准的痛点,实现行业前列的微弱信号与低功耗测试...
国磊GT600SoC测试机具备优异的高精度时序测试能力,依托100ps边沿精度与10ps分辨率TMU,可精细测算低功耗芯片的状态切换延迟与唤醒时长,保障设备实时响应性能稳定可靠。设备搭载2...
现代高精手机SoC普遍搭载LPDDR5,是整机性能释放的主要关键。这类接口协议复杂、时序精度要求极高,已然成为芯片测试的重点与难点,对测试设备的运行速率与存储深度提出了严苛要求,传统测试设...
针对HBM高带宽、3D堆叠封装的高速测试需求,国产ATE测试板卡迭代高速信号采集与时序调控技术,实现皮秒级时序精度控制,适配超高带宽数据传输测试场景,精细捕捉高速信号传输中的微小损耗与时序...