光强信号指示灯显示当前光强是否超过5%。当测量样品未在量程范围内,此时不存在测量信号,该指示灯为熄灭状态。当光强信号大于5%,信号灯点亮为绿色,表明测量数据质量较高。当光强信号小于5%时,信号灯则会显...
Irix?彩色共焦技术?适用于多种应用领域:汽车玻璃玻璃容器与包装工业电子工业(PCB)半导体工业(硅片)用于测量卷对卷、透明和非透明薄膜(例如EV电池盖)的应用3C行业电动汽车工业(电池)机器人学微...
线激光位移传感器高精度高性价的线激光位移传感器操作简单易懂出厂时已作标定,用户开箱即用。重新定义3D视觉,让3D相机的使用和2D相机一样简单明了,方便快捷。算法系统强大一体式3D智能激光传感器,依托自...
M10是一种带有或没有自定心导向套的电子测量塞规,用以检查范围在13-140mm的单一直径,可按照此直径范围将塞规进一步细分:A类塞规,13-21mm直径范围B类塞规,21-45mm直径范围C类塞规,...
测量状态指示灯包含三个LED信号灯,分别显示系统错误、光信号强度和量程预警。系统错误信号灯指示传输数据是否过载,光信号强度指示灯显示当前光强信号是否超过5%,而量程预警指示灯则显示测量样品是否在量程范...
精密度盘式测量仪器与度盘式比较仪需要单独报价,报价取决于型号精确匹配的测量主轴与测量杆(**小滞后作用)在质量陶瓷轴承中运行的齿轮轴旨在任何位置中设置零的360°完整旋转的斜视规有效的防震系统协助将工...
指示器和显示单位该系列产品包括测量值可视化的基本解决方案,从高质量的指标,还具有蓝牙传输功能,到电池操作的模拟显示单元,小型和传统的柱状显示单元,提供清晰的测量结果定义和即时读取。刻度盘和数字指示器小...
对于光学测量不到的特征,G25是一个完美的互补。这些测量特征通常包括:•键槽深度,角度,对称度•孔•平面的形位特征•轴向跳动。接触式轴向测头通过智能集成的轴向接触式测头,可进一步拓展Optoquick...
注意事项:?当整理光纤线时避免将其弯曲成曲率半径小于20mm的圆弧。?当不用光纤连接时,为了避免光纤头被污染,插口必须被保护盖盖住,否则可能导致传感器出故障。你知道光谱共焦传感器为什么采用LED白光吗...
MARPOSS可以用累积室中的氦气对电池PACK进行泄漏测试,待测零件在环境压力下被放入密封室,然后充入氦气,通过氦质谱仪检测是否有示踪气体从待测零件流到密封室里。这种零部件半成品和pack成品的泄漏...
MARPOSS累积室中的氦气对电池PACK进行泄漏测试,该技术在此漏率范围内取得了非常好的测试结果,并且方案简单可靠。通过空气泄漏测试方法(压降法或质量流量法)检查组装好的冷却回路。检测泄漏精度高达1...
在铁芯方面,叠片作为电机的重要部件,影响着电机的电、磁、机械性能。每块叠片的几何形状对铁芯的尺寸都有影响;因此,为确保定子和转子的高质量水平,加工过程监控、测量和检查都是必不可少的。在冲压过程监控方面...
马波斯(半)自动测量系统Visiquick马波斯半自动测量系统基于接触或光学技术。被测容器采用人工装卸,测量周期自动进行。基于光学技术的系统柔性很高,可以测量许多不同的物品,无论其大小、形状和颜色,且...
Optoquick是Marposs公司产品线专门用于生产环境中对工件进行精确测量的设备。Optoquick在测量性能、速度和柔性之间实现比较好平衡。它在准确性、重复性与稳定性方面体现出****的测量性...
Marposs为各种制造过程的控制和·优化提供解决方案,从单个组件到装配制程的控制,以及整个装配方案的功能检查。通过反电动势分析检查永磁转子的磁场均匀性、检查感应电机鼠笼转子条的局部缺陷、绕线转子的绝...
Optoflash具有明显的功能。一方面,高速测量。在不进行Z轴运动的情况下对整个零件进行光学采集—相对其它系统对测量要素逐一扫描测量来说—Optoflash测量系统测量只需一瞬间。另一方面,可靠耐用...
对于光学测量不到的特征,G25是一个完美的互补。这些测量特征通常包括:•键槽深度,角度,对称度•孔•平面的形位特征•轴向跳动。接触式轴向测头通过智能集成的轴向接触式测头,可进一步拓展Optoquick...
为了满足电池的高质量标准要求,必须在生产过程中系统地应用测量和测试技术。这将提高生产效率,减少次品,并满足安全性和性能要求。电池包电芯的泄漏测试HEV/EV的技术发展对汽车行业提出了新的泄漏测试要求,...
EV(电动汽车)和HEV(混动汽车)的增长趋势则进一步推动了该需求,在这种趋势下,人们希望来自发动机的噪音是间歇性的或不再存在,而传动系统的噪音在车辆总体噪音中将占据主导地位。当前,国际法规和消费者期...
在单啮和变速箱(减速机)偏差分析方面,2速或1速变速箱(减速机)零件加工必须满足高精度要求,以确保零件装配后不会对车辆造成额外的噪音。SF测试是齿轮加工后的啮合旋转测试。测试时,标准齿轮至于适当的安装...
在半导体行业,圆晶减薄当然是非常精密的加工过程。在减薄过程中,需要用接触式或非接触式传感器严格控制加工过程。从步骤来看,封装前,圆晶需要达到正确的厚度,这是半导体生产的关键。圆晶背面研磨(圆晶减薄)是...
在紧固件的质量控制方面,螺栓、销钉和铆钉都可以通过Optoflash实现快速测量。标准的测量选项里包括螺纹测量功能:螺纹大径、螺纹小径、螺纹中径、螺距、啮合角度、螺纹总长度、螺纹起始点角向、螺纹轴线、...
Optoquick帮助操作人员直接在生产机床旁,进行快速与准确的质量检查。通过减少工件物流等待的时间,而优化了工艺流程。Optoquick系统采用非接触式光学扫描系统,实现快速与准确的测量。测量可在静...
光谱共焦线传感器由180个点组成,可以测量距离厚度粗糙度形状高分辨率各种材料适用于各种行业。适用于各种材料金属(抛光或粗糙),玻璃,陶瓷,塑料,碳,硅…同轴性无阴影影响精度&分辨率亚微米级精度,Z轴纳...
什么是光谱共焦干涉仪?非接触式轮廓测量技术中的测量精度,通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰,开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统,干涉仪显微镜的精度可...
Optoquick让操作变得更高效。Optoquick减少了生产过程中,浪费在零件验证上的时间。Optoquick的操作不但快速,而且可将它直接安装在生产机床旁,消除了昂贵的工件物流成本。使用Opto...
Marposs为各种制造过程的控制和·优化提供解决方案,从单个组件到装配制程的控制,以及整个装配方案的功能检查。通过反电动势分析检查永磁转子的磁场均匀性、检查感应电机鼠笼转子条的局部缺陷、绕线转子的绝...
光谱共焦传感器可以测量几乎任何类型的材料(玻璃,陶瓷,塑料,半导体,金属,织物,纸张,皮革等)制成的样品。它们可以测量抛光表面(镜子,镜片,晶圆)以及粗糙表面。光斑尺寸、比较大采样斜率、工作距离和测量...
对于半导体行业来说,圆晶测量和缺陷检测都是半导体生产的关键环节,检测和控制生产中的每一步生产质量。为了显微测量,马波斯提供2D光谱共焦线扫相机。在超高分辨率和超大景深应用中,可在Z轴上准确聚焦。因此,...
Optoquick的设计目的是在数秒之内完成对零件的综合质量检查。基于图像识别的技术,有助于缩短测量周期。在旋转工件进行测量时,Optoquick还可采用智能图像处理技术同时测量零件的多个不同特征。采...