AVI400-XLAVI400-XL的基本配置包括两个紧凑型隔振模块和一个控制单元，最大负载为800公斤。通过增加紧凑型单元的数量，可以轻松实现对更高负载的支持。为了使AVI400-M适应用户特...

EVG®770的特征：微透镜用于晶片级光学器件的高效率制造主下降到纳米结构为SmartNIL®简单实施不同种类的大师可变抗蚀剂分配模式分配，压印和脱模过程中的实时图像用于压印和脱模的原位力控制可选的光...

薄膜应力分析仪维护保养：1、避免撞击和振动：薄膜应力分析仪在使用过程中避免撞击和振动，以免对仪器产生损坏。2、 适当的加热：在相对潮湿的环境下测试时，需要对仪器和样品进行适当加热，以减少水气对测量结果...

位移传感器是一种测量物体或构件位置和方向的传感器，用于测量在直线和/或角位移方向上的物理运动，可用于各种应用，包括：1. 机械加工行业：用于测量机器的精度和位置，以确保产品的精度和质量。同时，还可用于...

AVI200-MAVI200-M的隔离始于1,2Hz，超过10HZ以上迅速增加至35db减少低频谐振可得到比普通的被动空气阻尼系统更好的性能AVI200-M系统固有的刚性赋予其出色的方向性和位置稳定性...

薄膜应力分析仪的重要性是如何体现的？薄膜应力分析仪的重要性主要体现在三个方面：1. 质量控制：薄膜应力分析仪可以测量出薄膜层的应力情况、厚度、粗糙度等性质，从而可以对薄膜生产过程进行实时监控和质量控制...

EVG®850LT特征利用EVG的LowTemp™等离子基活技术进行SOI和直接晶圆键合适用于各种熔融/分子晶圆键合应用生产系统可在高通量，高产量环境中运行盒到盒的自动操作（错误加载，SMIF或FOU...

市场上常见的晶圆缺陷检测设备主要包括以下几种：1、光学缺陷检测系统：通过光学成像技术对晶圆进行表面缺陷检测，一般分为高速和高分辨率两种。2、电学缺陷检测系统：通过电学探针对晶圆内部进行缺陷检测，可以检...

电阻率测量仪由哪些结构组成？1. 探头或电极：电阻率测量仪的探头或电极是负责接触被测样品的部件，通常与测试物品相连，以便其测量电阻率变化。2. 仪表或显示器：电阻率测量仪的仪表或显示器是控制测量参数和...

LFS控制单元上的每个D-Sub15插座都有4个对应于AVI元件的开关输出，这些AVI元件以任意4个矩形方向（即平行或直角）放置，不允许其他方向。面向LFS传感器的蓝色LED直立。将弟一个AVI元件连...

手次使用AVI系统时，将前面板隔离开关设置为关闭（黑色旋钮熄灭）。打开电源。电源指示灯现在将点亮，16个显示LED将短暂闪烁。黄色启用LED将在约2Hz时闪烁。如果出现剧烈振动或把手放在桌面上，部分或...

高精度电容位移传感器：Microsense 有着成熟的电涡流使用技术以及红外技术。Microsense是世界上为数不多的在线厚度测量、电阻率测量以及PN结检测的模块的非接触的电容传感器制造商，具有典型...