Optoquick可以快速、精细整个零件的质量测量只在数秒之间就可完成。其具有光学接触式测针马波斯专业测量经验轻松应对任何的测量挑战!另外,Optoquick柔性大,能够采用单个系统,兼容测量多个零件工业级在车间现场的性能较好。生产现场环境中的高精度测量因为Optoquick拥有前列的光电技术和马波斯设计,所以在测量性能、速度与柔性之间实现比较好的平衡。作为生产现场环境的比较好解决方案,它在准确性、重复性与稳定性方面体现出了稳定的测量性能。它可在恶劣环境条件下进行测试。即使现场温度变化大,它也能实现准确的动态温度补偿。本质上NVH检测的原理是通过施加与实际工况相似(甚至更高)的转速和扭矩值来对齿轮进行检测。转子轴光学尺寸测量
Optoflash具有以下特点。一、易于使用简单直观的用户界面降低了操作人员培训的成本。智能结果显示、工件细节图像、图形设置等各项功能一应俱全。任何人员都能轻松使用Optoflash测量系统,并能对新的测量数据进行设置。二、新功能在测量数据存档后,操作人员可利用智能搜索功能,通过图像和统计趋势显示查看零件的详细信息。三、高级设置的柔性测量系统能够通过简单的操作满足各种应用要求。除此之外,Optoflash测量系统配备了马波斯软件用户界面。转子轴光学尺寸测量E.D.C.自1998年以来开发的用于局部放电绝缘测试的方法基于电容耦合技术。

对于半导体行业来说,圆晶测量和缺陷检测都是半导体生产的关键环节,检测和控制生产中的每一步生产质量。为了显微测量,马波斯提供2D光谱共焦线扫相机。在超高分辨率和超大景深应用中,可在Z轴上准确聚焦。因此,这是检测圆晶缺陷的理想选择,例如,圆晶沿的检测和封装期间的检测。这些传感器都允许集成在测量和检测设备中。马波斯和STIL在数十年的发展中积累了丰富的经验,可为用户提供量身定制解决方案和的光学设计。马波斯的小横向分辨率为0.4μm*0.4μm,大倾斜角为+/-45°,0.75数值孔径。
Optoflash是世界上轴向可以采用多个光学传感器的测量系统。这意味着可以通过不同的光学传感器分别获取图像,然后将所有图像完美地结合在一起,从而生成一幅单一的工件合成图像,并可确保合成边缘毫无任何断点和缺口。得益于这一独特的设计,Optoflash测量系统无需光学系统或工件本身进行任何轴向运动,就可以覆盖长度达300mm的测量范围。当前,作为世界上前列的轴向可以采用多个光学传感器的测量系统。Optoflash的总测量时间可达5.6秒!马波斯的测量技术几乎涵盖了当今工业应用和需求的大多数解决方案。

马波斯在扁线尺寸测量深耕多年,能够提供针对生产电动车定子测量的多款解决方案。众所周知,生产电动车定子需要使用不同类型的扁线,马波斯提供的这款柔性非接触式测量方案就能够测量不同类型扁线的主要几何特征。这解决了生产电动车定子测量遇到的问题。实际上,在扁线尺寸测量方面,马波斯可提供非接触式解决方案,同时保证不同类型的零件都能够使用测设备测量。这在一定程度上体现了马波斯该系列解决方案无需换工装速度快且精度高的优点。马波斯将自动化和测试有效地结合在一起,马波斯将测试技术无缝整合到客户的作业流程中。转子轴光学尺寸测量
马波斯可根据需要定制解决方案,将传感器安装在检测设备的可控轴上,可自动测量或更换工装。转子轴光学尺寸测量
MARPOSS可以用累积室中的氦气对电池PACK进行泄漏测试,待测零件在环境压力下被放入密封室,然后充入氦气,通过氦质谱仪检测是否有示踪气体从待测零件流到密封室里。这种零部件半成品和pack成品的泄漏测试技术是一种非常可靠的方法,可以确保产品整体密封性良好,从而防止水进入电池pack内部。使用示踪气体的泄漏测试方法可确保比较大的测试灵敏度,其可以识别极低的泄漏情况,适用于大容积部件和任何环境条件。我们在累积室氦气泄漏测试方案可以测量10-2-10-4SCC/sec的泄漏。转子轴光学尺寸测量