铼钨针座的针尖尖部经过特殊工艺加工而成,针锥精度高,具有厉害度和弹性模量,产品更耐磨、更耐腐蚀,表面光滑无伤,光洁度可达到Ra0.25以下,几乎为镜面。铼钨针座有不同的针尖类型,即不同的尖部形状,例如,针尖带平台,针尖完全尖以及针尖为圆弧;针座直径为0.05-1.2mm,长度为15-300mm,尖部为0.08-100μm。铼钨针座主要应用于半导体、LED、LCD等行业,应用于针座、针座、芯片测试、晶圆测试和LED芯片测试等领域。针座用于晶圆加工之后、封装工艺之前的CP测试环节,负责晶圆的输送与定位,使晶圆上的晶粒依次与针座接触并逐个测试。针座通道相互配合来对液体进行密封,紧密可靠,具有良好的防回血功能。深圳wafer 针座规格参数
可调节结构的纺织机针座,包括纺织机针座主体,纺织机针座主体的内部固定安装有导向轴和导向轴通孔,且导向轴通孔套接在导向轴上,在导向轴通孔的侧面设置有条状凹槽,导向轴套接在固定卡口的内部,且导向轴通过固定卡口连接有转动轴,在转动轴上设置有防滑纹路,导向轴的侧面固定安装有第1排针组,第二排针组和第三排针组。该可调节结构的纺织机针座,通过设置三组织针间距不一的排针组,这样就实现了织针间距位置的调节,结构简单,使用方便,适用于多种纺织设备,设置固定卡口。深圳wafer 针座规格参数针座实现匹配固定,插入即固定,达到防脱效果。
针座的使用:1、将样品载入真空卡盘,开启真空阀门控制开关,使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。2、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台,在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。3、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。4、显微镜切换为高倍率物镜,在大倍率下找到待测点,再微调显微镜聚焦和样品,将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。待测点位置确认好后,再调节针座座的位置,将针座装上后可眼观先将针座移到接近待测点的位置旁边,再使用针座座-Z三个微调旋钮,慢慢的将针座移至被测点,此时动作要小心且缓慢,以防动作过大误伤芯片。
接触电阻即针座尖与焊点之间接触时的层间电阻。通常不能给出具体的指标,因为实际的接触电阻很难测量。一般,信号路径电阻被用来替代接触电阻,而且它在众多情况下更加相关。在检测虚焊和断路的时候,针座用户经常需要为路径电阻指定一个标称值。信号路径电阻是从焊点到测试仪的总电阻,即接触电阻、针座电阻、焊接电阻、trace电阻、以及弹簧针互连电阻的总和。但是,接触电阻是信号路径电阻的重要组成部分。测试信号的完整性需要高质量的针座接触,这与接触电阻(CRes)直接相关。针座采用对柔性电路板进行功能测试时,不会使柔性电路板因受外力而产生损坏,且测试效率高。
自动排气的输液针座,包括输液外管,输液外管上段的空腔内套装有输液内管,输液内管的上端沿输液外管伸出,输液内管的伸出端连接针头,输液内管的下端固接在输液外管上,输液内管的下端连接自排气组件,自排气组件由侧壁和底端组成,自排气组件与输液内管相通,自排气组件侧壁的下段开有通孔,自排气组件的侧壁与输液外管的内壁之间留有空隙。在输液内管底端固装自排气组件,自排气组件侧壁的下段开有通孔,使得无论针座处于竖直方向还是水平方向,空气都会由于其密度比液体密度小而浮在上方,那么液体会从通孔进入输液内管,从而达到可以自动排气的目的。针座组装方便,结构稳定,保持使用寿命长。深圳wafer 针座规格参数
针座其自动化程度和组装效率高。深圳wafer 针座规格参数
针座主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,针座可吸附多种规格的芯片,并提供多个可调测试及探卡测试针台座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。根据导电性,材料被分为像铜一样导电的导体,像陶瓷一样不导电的绝缘体,还有导电性介于两者间的半导体。近,“半导体”也常被用来称呼利用半导体的特性制成的集成电路。深圳wafer 针座规格参数