DDR测试眼图测量检查

有问题眼图的调试

当眼图出现问题时，通过眼图的参数可以定位一些问题所在，例如过冲/欠冲反映驱动能力和阻抗适配特征，以及幅度过低反映电压幅度不足，等等。这些都是先观察眼图整体特征,再推导可能的问题所在。

对于抖动引起的问题往往不容易分析，可以利用示波器的解开眼图工具和抖动分析工具,定位可能的问题所在。就是典型的抖动引起的问题，短时间内观察眼图很好，但一旦累积时间较长，就会岀现边沿过模板的状况。

眼图有问题，即有信号进入模板时，就可以把眼图展开，定位具体进入模板的信号波形。发现有8个波形进入模板，这时把眼图展开，一个一个地具体浏览进入模板 的波形形状，再分析可能的根源。 如何由眼图分析信号？DDR测试眼图测量检查

克劳德高速数字信号测试实验室

眼图测试高速串行数据信号的眼图与抖动的仪器都使用了基于锁相环的时钟恢复方法。其中，实时示波器主要使用软件PLL来恢复参考时钟，取样示波器和误码率测试仪都使用硬件PLL来恢复时钟。采用软件恢复时钟方法，捕获长数据波形，将数据与恢复时钟逐位比较，完成眼图、抖动、误码率测试。可分析捕获的串行数据的每一个Bit位，避免了触发抖动和硬件恢复时钟抖动导致的测量不精确，CDR抖动和触发抖动理论为0。 DDR测试眼图测量检查眼图形成理论研究（关于眼图的原理、基础及测量)；

对于一般的信号而言，平均分布信号位准1 及0 是常见的。一般要求眼图交叉比为50%，即以相同的信号脉冲1 与0 长度为标准，来作相关参数的验证。因此，根据眼交叉比关系的分布，可以有效地测量因不同1 及0 信号位准的偏差所造成的相对振幅损失分析。例如，眼交叉比过大，即传递过多1 位准信号，将会依此交叉比关系来验证信号误码、屏蔽及其极限值。眼交叉比过小，即传递过多0 位准信号，一般容易造成接收端信号不易从其中抽取频率，导致无法同步，进而产生同步损失。

眼图中的“1”电平（ top P）与“0”（ base P ）电平即是表示逻辑为1 或0 的电压位准值，实际中选取眼图中间的20% UI 部分向垂直轴投影做直方图，直方图的中心值分别为“1”电平和“0”电平。

眼幅度表示“1”电平信号分布与“0”电平信号分布平均数之差，其测量是通过在眼图位置附近区域（通常为零点交叉时间之间距离的20%）分布振幅值进行的。

眼宽反映信号的总抖动，即是眼图在水平轴所开的大小，其定义为两上缘与下缘交汇的点（Crossing Point）间的时间差。交叉点之间的时间是基于信号中的两个零交叉点处的直方图平均数计算而来，每个分布的标准偏差是从两个平均数之间的差值相减而来。

眼高即是眼图在垂直轴所开的大小，它是信噪比测量，与眼图振幅非常相似。 眼图模板 什么是模板（Mask）测试？

眼图高度(眼高)的定义

眼图高度即眼高，是测量眼图的垂直开口高度，测量使用启用色度余辉功能时创建的数据库，垂直直方图是由落入定义眼图的窗口内的波形数据构成的。可利用垂直直方图找到九p、外以，以及波顶电压与波底电压的标准偏差。

其中，为垂直直方图的波顶峰值的平均电压；/叩为垂直直方图的波顶峰值的标准偏差；■base为垂直直方图的波底峰值的平均电压；債防。为垂直直方图的波底峰值的标准偏差。

眼图宽度（眼宽）的定义

眼图宽度即眼宽，是测量眼图的水平开口大小，测量使用启用色度余辉功能时创建的数据库，水平直方图由落入/理和Lse定义的窗口内的波形数据创建。可以利用水平直方图找到眼图交叉点的平均时间值和标准偏差。应考虑到，噪声和抖动会使交叉点位置发生较大的变化及眼图闭合。 眼宽度（Eye Width）是水平两个眼交叉点（Crossing Point）之间的水平距离，单位为秒。DDR测试眼图测量检查

眼图的关键参数，眼幅度和眼高度；DDR测试眼图测量检查

眼图的形成

眼图中包含的信息

对于一幅真实的眼图，首先我们可以看出数字波形的平均上升时间(Rise Time)、下降时间(Fall Time)、上冲(Overshoot)、下冲(Undershoot)、门限电平(Threshold/Crossing Percent)等基本的电平变换的参数。

电平变换参数

信号不可能每次高低电平的电压值都保持完全一致，也不能保证每次高低电平的上升沿、下降沿都在同一时刻。由于多次信号的叠加，眼图的信号线变粗，出现模糊(Blur)的现象。所以眼图也反映了信号的噪声和抖动：在纵轴电压轴上，体现为电压的噪声(Voltage Noise)；在横轴时间轴上，体现为时域的抖动(Jitter)。 DDR测试眼图测量检查