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浙江科学指南针X射线光电子能谱仪XPS检测数据可靠吗

来源: 发布时间:2024年06月19日

XPS 样品的安装一般是把粉末样品粘在双面胶带上或压入铟箔(或金属网)内,块状样品可直接夹在样品托上或用导电胶带粘在样品托上进行测定。其它方法:1.压片法:对疏松软散的样品可用此法。2.溶解法:将样品溶解于易挥发的有机溶剂中,然后将其滴在样品托上让其晾干或吹干后再进行测量。3.研压法:对不易溶于具有挥发性有机溶剂的样品,可将其少量研压在金箔上,使其成一薄层,再进行测量。科学指南针-中国大型科研服务机构,公司成立于 2014 年,以分析测试为重要,提供包含材料测试、行业解决方案 、云现场、环境检测、模拟计算、数据分析、试剂耗材、指南针学院等在内的研发服务矩阵。XPS测试就找科学指南针!我们的技术老师具备丰富的实践经验,能够解决XPS检测过程中遇到的各种问题。浙江科学指南针X射线光电子能谱仪XPS检测数据可靠吗

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通过XPS技术,可以分析锂电池材料在循环过程中容量衰减的原因和机理,如活性物质的结构变化、SEI膜的增厚以及界面电阻的增加等。以某种高性能锂电池材料为例,通过XPS技术对其在循环过程中的性能进行评估和分析,发现该材料在循环过程中表现出较好的化学稳定性和容量保持率,这主要得益于其独特的表面结构和稳定的SEI膜。科学指南针已建立20个大型测试分析实验室(材料检测实验室、成分分析实验室、生物实验室、环境检测实验室等);现有80余台大中型仪器设备,总价值超2亿元;每年持续投入5千万元以上购买设备。XPS测试就找科学指南针!浙江科学指南针X射线光电子能谱仪XPS检测数据可靠吗我们对XPS仪器进行定期的维护和升级,以确保设备的稳定性和准确性。

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通过分析LixCoO2在脱嵌过程中的结构机制变化,引入对该过程电化学反应机制的思考。发现以前人们会认为在充放电过程中只有过渡金属离子Co3+/Co4+的变价是错误的,O离子并不是固定在O2-,其中O2-也会释放电子,发生化合价的改变.(这是目前锂离子电池领域理论的一个新突破)。分析Co和O这两个元素的XPS各分子轨道光谱,发现在Li+脱出的过程中,Co3+、O2-同时发生了氧化反应。科学指南针拥有完善的分析技术,自建海量图谱分析数据库,引入互联网智能、便捷工具,始终秉持“客户至上”的服务理念,助力产品高效研发。XPS测试就找科学指南针!

除去常见的对材料表面氧空位、碳原子或者氮原子缺陷位点的分析,XPS在缺陷分析中还有一个高大上的应用,那就是利用光电子能谱测量功函数,测量整个光谱范围光电子能谱,在低结合能和高结合能下测量截断能,由截断能和光子能量可以确定出功函数。使用50微米的X射线光斑收集信息,用PCA(Principal Component Analysis)算法就可以构建太阳能电池某损坏位置的实时光学视图。该方法极大依赖于光谱仪和光子能量校准的精确度,在K-Alpha XPS中,仪器会自动校准结合能,光子能量可以通过测量X射线诱导的俄歇峰的结合能位置来检查,以上校准过程仪器自动完成,所以XPS是一种研究失效太阳能电池脱出功面分布快捷直观的手段。科学指南针-中国大型科研服务机构,公司成立于 2014 年,以分析测试为重要,提供包含材料测试、行业解决方案 、云现场、环境检测、模拟计算、数据分析、试剂耗材、指南针学院等在内的研发服务矩阵。XPS测试就找科学指南针!我们提供定制化的XPS检测方案,以满足客户的特殊需求。

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X射线光电子能谱仪 (简称XPS)是一种常规的表面成分分析技术,可以表征材料表面的成分组成及各成分的化学价态,并可定量表征每种成分的相对含量。XPS采用激发源-X射线入射样品的表面,(常用的X-射线源是Al-Kα单色化X射线源,能量为1486.6eV,)探测从样品表面出射的光电子的能量分布,其原理基于爱因斯坦的光电发射理论。由于X射线的能量较高,所以得到的主要是原子内壳层轨道上电离出来的电子。由于光电子携带样品的特征信息(元素信息、化学态信息等),通过测量逃逸电子的动能,就可以表征出样品中的元素组成和化学态信息。因此对于各种材料开发,材料剖析与失效机理的分析和研究具有不可替代的作用。科学指南针以客户需求为重要,提供专业化、定制化、个性化方案,建立完善的服务流程和沟通机制,全程跟踪大客户的测试需求和反馈,及时解决问题和提供支持。XPS测试就找科学指南针!实验室不断引进新的检测设备和技术,以保持行业前沿地位。浙江科学指南针X射线光电子能谱仪XPS检测数据可靠吗

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XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息,从峰强可获得样品表面元素含量或浓度。一般来说全谱扫描定性分析,窄谱进行定量分析。XPS是一种典型的表面分析手段。其根本原因在于:尽管X射线可穿透样品很深, 但只有样品近表面一薄层发射出的光电子可逃逸出来。样品的探测深度(d)由电子的逃逸深度(λ, 受X射线波长和样品状态等因素影响)决定,通常,取样深度d = 3λ。对于金属而言λ为0.5-3 nm;无机非金属材料为2-4 nm; 有机物和高分子为4-10 nm。科学指南针各地实验室现分别拥有多种大型精密设备,如 TEM、FIB、XPS、核磁、AFM、SEM、EPR、稳态瞬态荧光光谱仪、台式同步辐射等,提供材料、环境、医药等多方位分析测试服务。XPS测试就找科学指南针!浙江科学指南针X射线光电子能谱仪XPS检测数据可靠吗

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