随着半导体制程向 7nm 及以下先进节点突破，晶圆上的器件结构尺寸已缩小至纳米级别，传统检测技术难以满足精度需求，无损检测分辨率需...

陶瓷基板的介电性能（如介电常数、损耗角正切）直接影响其作为电容介质或微波基板的使用效果，但传统检测方法（如谐振法）需制备**样品且...

国产超声检测设备近年来在主要部件自主化领域取得关键突破，尤其在高频探头（≥10MHz）研发上实现从依赖进口到自主量产的转变，打破了...

新能源汽车的快速发展为陶瓷基板带来了广阔的应用前景。新能源汽车中的功率电子模块，如电机控制器、电池管理系统等，对散热和电气性能要求...

Wafer 无损检测需严格遵循 SEMI（国际半导体产业协会）制定的国际标准，这些标准涵盖检测方法、设备要求、数据格式、缺陷判定等...

多晶晶圆由多个晶粒组成，晶粒边界是其结构薄弱环节，易产生缺陷（如晶界偏析、晶界裂纹），这类缺陷会***影响器件电学性能，因此多晶晶...

分层是复合材料中常见的一种缺陷，它可能由于制造过程中的工艺问题或使用过程中的外力作用而产生。分层会导致复合材料的力学性能下降，影响...

芯片无损检测是确保芯片质量和可靠性的关键环节。在芯片制造过程中，由于材料、工艺等因素的影响，芯片内部可能会产生各种缺陷，如裂纹、空...

无损检测标准与工程实践：损检测标准是确保无损检测质量和准确性的重要依据。在工程实践中，需要严格遵守无损检测标准，确保检测的规范性和...