受国际形势的影响，国内很难再从国外进口氮化铝陶瓷加热盘，导致国内对氮化铝陶瓷加热盘的需求变得紧张起来。氮化铝陶瓷加热盘被应用于半导体行业中，常见的加热盘一般是8英寸的，国内对氮化铝陶瓷加热盘需求紧张，但是国内能加工氮化铝陶瓷加热盘的厂家却很少。导致这种情况的原因主要是由于氮化铝陶瓷加热盘的加工难度很高，那么为什么氮化铝陶瓷加热盘加工难呢？下面就由钧杰东家为您解答。氮化铝陶瓷加热盘-钧杰陶瓷首先，我们需要了解一下氮化铝陶瓷是什么：陶瓷行业的行家都知道，氮化铝陶瓷是一直具有高导热性能和电绝缘性能的先进陶瓷材料，被广泛应用于电子工业。氮化铝晶体属于六方晶系，它以四面体为结构单元共价键化合...

晶圆放置在垫柱3上，使晶圆与加热盘1之间形成间隙，防止晶圆与加热盘1直接接触从而损坏晶圆，。加热盘1上还设有限位柱4，限位柱4的数量为6个，晶圆放置在6个限位柱之间，这方每次加热晶圆时，晶圆都能放置在加热盘1的固定位置。底板2上设置有温度传感器5，温度传感器5用于检测底板2上温度值。底板2上设置有过温保护器6，当温度过高使，对加热器及时断电，防止加热器损坏。实施例二、加热器在工作过程中温度较高，这样加热器的周围的温度也会较高，很容易烫伤工作人员，因此在上述实施例的基础上，曾设了隔热环7，隔热环7套设在加热器**，起到了对周围隔热的作用，同时也减少了加热器热量的散发，同时也保证的工作人员...

辅助加热水套与中心加热筒2连通的一端用于辅助加热，封闭端用于线圈7的安装检修。内筒体3与中心加热筒2之间均匀设置有线圈固定装置8，沿线圈固定装置8外侧螺旋绕装有线圈7。线圈7截面为正方形，线圈上端距离顶部端面不低于150mm。中心加热筒体2与外侧水套中间形成的圆环形空腔用于放置线圈7，该开口圆环面积*占空腔总表面积的％，且线圈距离开口端面150mm以上，所以理论漏磁量非常小。将％的空间表面封闭在一个金属空腔内，减少了漏磁、增加电感量。当多个单元体组装时，无需考虑两个单元体之间或单元体与周边环境之间的电磁干扰或感应，从而缩减设备整体尺寸，满足设计要求。如图2-图3所示，线圈固定装置8设有...

辅助加热水套与中心加热筒2连通的一端用于辅助加热，封闭端用于线圈7的安装检修。内筒体3与中心加热筒2之间均匀设置有线圈固定装置8，沿线圈固定装置8外侧螺旋绕装有线圈7。线圈7截面为正方形，线圈上端距离顶部端面不低于150mm。中心加热筒体2与外侧水套中间形成的圆环形空腔用于放置线圈7，该开口圆环面积*占空腔总表面积的％，且线圈距离开口端面150mm以上，所以理论漏磁量非常小。将％的空间表面封闭在一个金属空腔内，减少了漏磁、增加电感量。当多个单元体组装时，无需考虑两个单元体之间或单元体与周边环境之间的电磁干扰或感应，从而缩减设备整体尺寸，满足设计要求。如图2-图3所示，线圈固定装置8设有...

MR)等在高温中气相化学反应(热分解，氢还原、氧化、替换反应等)在基板上形成氮化物、氧化物、碳化物、硅化物、硼化物、高熔点金属、金属、半导体等薄膜方法。因只在高温下反应故用途被限制，但由于其可用领域中，则可得致密高纯度物质膜，且附着强度很强，若用心控制，则可得安定薄膜即可轻易制得触须(短纤维)等，故其应用范围极广。热CVD法也可分成常压和低压。低压CVD适用于同时进行多片基片的处理，压力一般控制在。作为栅电极的多晶硅通常利用HCVD法将SiH4或Si2H。气体热分解（约650oC）淀积而成。采用选择氧化进行器件隔离时所使用的氮化硅薄膜也是用低压CVD法，利用氨和SiH4或Si2H6反应...

加热板搅拌器加热搅拌器加热板&搅拌器附件优异的性能与智能技术令人印象深深的高性能、高安全性和操作简便性，使您能够轻松找到**合乎您实验室要求的加热装置。我们普遍的加热板、搅拌器、加热搅拌器以及相关附件可以全然满足任何实验室需要。广受欢迎的加热板和搅拌器RT2高级加热搅拌器实验室加热板和搅拌器专题目录实验室加热板我们均匀加热的加热板能够提供多种赢得可再现结果的能力，包括温度稳定性、耐用性以及远程支配访问的能力，以实现安全性和便捷性。搅拌器我们的搅拌器产品组合在大多数应用中可达到2400rpm的转速，且在严格的细胞培养应用中保证可靠性、安全性和运行性能，将根据您的全部实验室需要为您提供解决...

设计不同的热流密度；防止工质进入过渡沸腾区，从而导致传热恶化，壁温过热。由于采用竖管加热，筒体上部的含汽率远高于下部，筒体上部容易产生传热恶化，所以必须减少筒体上部的热流密度，故此在水冷线圈7设计时采用下密上稀的结构，确保在同样长度内，底部的线圈匝数多，热流密度大；顶部的线圈匝数少，热流密度小。这样通过分区段计算，从理论上上降低了筒体壁温高的可能性，**提高了设备的安全性和使用寿命。图4为本发明实施例用于蒸汽炉加热的汽水流程示意图。其中锅筒下方通过下降管连接水平连通管，水平连通管分别与汽水引进管5和辅助加热水套汽水引入管6相连，锅筒中的饱和水从下降管，经底部联通管分别流向中心加热筒体2...

本实用新型涉及等离子体cvd晶圆加热器的领域，尤其涉及一种等离子体cvd晶圆加热器用表面修磨装置。背景技术：随着半导体技术的不断飞速发展,单个芯片上所承载的晶体管数量以惊人的速度增长,与此同时,半导体制造商们出于节约成本的需要迫切地希望单个晶圆上能够容纳更多的芯片,这要求更加精细的制造工艺.一种常用的工艺是等离子体化学汽相淀积(pecvd).化学汽相淀积(pecvd)一般用来在半导体晶圆衬底上淀积薄膜,气体起反应在晶圆加热器表面形成一层材料；等离子体cvd晶圆加热器是半导体芯片加工的关键设备，起承载吸附晶圆及提供加热的作用,随着使用次数增加,晶圆在工艺过程中和等离子体cvd晶圆加热器表...

**名称：一种高频加热时精确控制温度的方法技术领域：本发明涉及一种高频加热时温度控制的方法，具体涉及一种晶体管高频加热时精确控制温度的装置及方法。背景技术：在冶炼、锻造、热拉、热装、焊接、热处理等金属制造业领域，高频加热的方法已开始逐渐代替传统的加热方法，高频加热作为一种新型的加热方式具有节约能源、加热灵活、操作方便等优点。在金属材料热处理领域，由于不同的材料比较好淬火温度有所不同，因此需要能够精确的控制温度。高频加热的方式虽然具有一系列的优点，但在其温度控制方法上仍然存在以下的不足1，通过传统的时间控制的热处理的淬火温度在士30°C左右，并且受输入电压、环境温度、工件尺寸公差、感应器...

***温度检测模块和第二检测模块均采用型号为pt1000的铂热电阻；***加热模块包括***功率继电器和***加热丝；第二加热模块包括第二功率继电器和第二加热丝；在本实施中，晶圆加热处于温度稳定阶段，并且将控制模块的温度稳定阶段的精度值设置为℃，本领域普通技术人员可根据实际需求设置该阶段的精度值。为了更好地解释本发明，假设***温度检测模块检测到的温度值为℃，第二温度检测模块检测到的温度值为℃，控制模块接收到上述两个温度值后，通过下述公式得到差值：差值＝|℃℃|＝℃控制模块将上述计算得到的差值与精度值进行比较，在本实施中，差值为℃，大于精度值℃；控制模块通过增大第二功率继电器的输出功率...

设计不同的热流密度；防止工质进入过渡沸腾区，从而导致传热恶化，壁温过热。由于采用竖管加热，筒体上部的含汽率远高于下部，筒体上部容易产生传热恶化，所以必须减少筒体上部的热流密度，故此在水冷线圈7设计时采用下密上稀的结构，确保在同样长度内，底部的线圈匝数多，热流密度大；顶部的线圈匝数少，热流密度小。这样通过分区段计算，从理论上上降低了筒体壁温高的可能性，**提高了设备的安全性和使用寿命。图4为本发明实施例用于蒸汽炉加热的汽水流程示意图。其中锅筒下方通过下降管连接水平连通管，水平连通管分别与汽水引进管5和辅助加热水套汽水引入管6相连，锅筒中的饱和水从下降管，经底部联通管分别流向中心加热筒体2...

实际关乎一种mocvd反应腔用加热板。背景技术：半导体芯片在发育时，对温场的均匀性要求较高，因此一种加热均匀且使用寿命较久的加热板对半导体芯片的制作具有至关关键的效用。通过检索，在**称谓：一种用以mocvd装置的钨涂层加热片及其制备方式（cnb）中公开了一种加热片，但是这种加热片由于中心为镂空构造并不适合半导体领域的芯片发育采用。在目前，芯片生长中用到到的加热板的构造如附图1所示，中间是形状为ω的热弧板1，在热弧板1的两侧分别连通两组拱形热片2，两组半圆形热片2是直线对称的，在半圆形热片2的自由端是分别接着电源的左电极和右电极。将这种传统的加热片放在陶瓷上通电后给上方的芯片提供平稳的...

同时，氮化铝耐熔融状态下金属的侵蚀，几乎不受酸的稳定。因氮化铝表面暴露在湿空气中会反应生成极薄的氧化膜，人们利用此特性，将它用作铝、铜、银、铅等金属熔炼的坩埚和烧铸模具材料。也因为氮化铝陶瓷的金属化性能较好，可替代有毒性的氧化铍陶瓷在电子工业中广泛应用。氮化铝的化学式为AlN，化学组成AI约占，N约占。它的粉体为一般是白色或灰白色，单晶状态下则是无色透明的，常压下的升华分解温度达到2450℃。氮化铝陶瓷导热率在170~210W/()之间，而单晶体更可高达275W/()以上。热导率高(＞170W/m·K)，接近BeO和SiC；热膨胀系数(×10-6℃)与Si(×10-6℃)和GaAs...

当***分区和第二分区之间的温度值差值超过℃时，控制模块降低温度较高的分区的功率继电器的输出功率，或者控制模块提高温度降低的分区的功率继电器的输出功率。本领域普通技术人员可根据实际需求设置该阶段的精度值。通过对热盘进行分区化的温度管理，使得各个分区之间的温度差一直处在合理范围内，进而可以提高升温速率，不用担心热盘温度不均匀而损坏晶圆，**终达到了缩短晶圆加工时间，提高产量的目的。实施例3：本实施与实施例1的不同点是晶圆加热处于冷却降温阶段，在该阶段控制模块的精度值设置为℃，当***分区和第二分区之间的温度值差值超过℃时，控制模块降低温度较高的分区的功率继电器的输出功率，或者控制模块提高...

设计不同的热流密度；防止工质进入过渡沸腾区，从而导致传热恶化，壁温过热。由于采用竖管加热，筒体上部的含汽率远高于下部，筒体上部容易产生传热恶化，所以必须减少筒体上部的热流密度，故此在水冷线圈7设计时采用下密上稀的结构，确保在同样长度内，底部的线圈匝数多，热流密度大；顶部的线圈匝数少，热流密度小。这样通过分区段计算，从理论上上降低了筒体壁温高的可能性，**提高了设备的安全性和使用寿命。图4为本发明实施例用于蒸汽炉加热的汽水流程示意图。其中锅筒下方通过下降管连接水平连通管，水平连通管分别与汽水引进管5和辅助加热水套汽水引入管6相连，锅筒中的饱和水从下降管，经底部联通管分别流向中心加热筒体2...

所述的调节支撑圆柱3-4与研磨盘主体3-1之间、调节支撑圆柱3-4与圆环1-2之间均设置为螺纹连接；所述的支撑圆盘本体1-1的材质采用铝合金；所述的圆环1-2的材质采用ptfe；所述的研磨块3-5的长度与晶圆加热器5的修磨面半径相等。本实用新型的具体实施：先将晶圆加热器的没有沟槽的非工作面区域使用数控车床进行修复，再将晶圆加热器放置在加热器支撑圆盘内，并用螺丝将圆环固定在支撑圆盘上，通过调节螺栓调节研磨块的位置，使研磨块与晶圆加热器相接触，同时观察三个数显深度测量指示表显示的数据是否一致，直至将三个数显深度测量指示表的数据调节为一致，此时，研磨块的平面度达到要求；然后启动旋转电机，旋转...

受国际形势的影响，国内很难再从国外进口氮化铝陶瓷加热盘，导致国内对氮化铝陶瓷加热盘的需求变得紧张起来。氮化铝陶瓷加热盘被应用于半导体行业中，常见的加热盘一般是8英寸的，国内对氮化铝陶瓷加热盘需求紧张，但是国内能加工氮化铝陶瓷加热盘的厂家却很少。导致这种情况的原因主要是由于氮化铝陶瓷加热盘的加工难度很高，那么为什么氮化铝陶瓷加热盘加工难呢？下面就由钧杰东家为您解答。氮化铝陶瓷加热盘-钧杰陶瓷首先，我们需要了解一下氮化铝陶瓷是什么：陶瓷行业的行家都知道，氮化铝陶瓷是一直具有高导热性能和电绝缘性能的先进陶瓷材料，被广泛应用于电子工业。氮化铝晶体属于六方晶系，它以四面体为结构单元共价键化合...

设计不同的热流密度；防止工质进入过渡沸腾区，从而导致传热恶化，壁温过热。(3)采用合理的绝缘固定方式，保证每匝线圈之间的节距，以及线圈到加热筒体内外壁之间的距离，保证各区段的电感量在设计范围之内。附图说明图1为本发明提供的电磁感应加热单元结构示意图；图2为本发明提供的电磁感应加热单元剖视图；图3为本发明提供的电磁感应加热单元外部结构示意图；图4为电磁感应加热单元与蒸汽炉配合工作流程示意图。附图标记说明：1-汽水引出管；2-中心加热筒；3-内筒体；4-外筒体；5-汽水引进管；6-辅助加热水套汽水引入管；7-线圈；8-线圈固定装置；81-支柱固定块；82-支柱定位管；83-绝缘支柱；84-...

本发明涉及锅炉加热技术领域，主要涉及一种电磁感应加热单元结构。背景技术：当前电锅炉通过电加热器对通过供水管流入的冷水进行加热，加热的水用于供暖或作为生活用水使用。根据水的加热方法锅炉可分为供热水锅炉和蓄热水锅炉。该锅炉因不易发生、不易泄漏有害气体、噪音小而普遍使用。近年来，随着油价的上涨，电锅炉因取暖费用低而备受人们关注。目前国内电阻式、电磁式、电极式等各种电加热技术都在锅炉加热领域得到了***运用。国内低压电磁加热技术应用较为普遍，其电磁加热原理是通过电子线路板组成部分产生交变磁场，当用含铁质容器放置在上面时，容器表面即切割交变磁力线而在容器底部金属部分产生交变的电流(即涡流)，涡流...

晶圆加热装置的制作方法文档序号：30596935发布日期：2022-07-0120:52阅读：35来源：国知局导航：X技术>*****>电气元件制品的制造及其应用技术1.本技术属于晶圆加工技术领域，尤其涉及一种晶圆加热装置。背景技术：2.目前，常用的晶圆加热设备的加热丝呈螺旋状从中心向**旋转，加热丝在热盘中的分布不够均匀，无法达到均匀加热的目的，无法满足晶圆的高精度加热要求，而高精度加热对半导体工艺至关重要。3.另外，在晶圆加热前需要先行对晶圆进行定位，在先技术中通常通过真空吸盘定位，但现有的真空吸盘对晶圆的吸附力通常不够均匀，晶圆和真空吸盘间的间隙存在差异，这也会导致晶圆加热不...

是在晶圆的正面贴一层膜保护已经制作好的集成电路，然后通过研磨机来进行减薄。晶圆背面研磨减薄后，表面会形成一层损伤层，且翘曲度高，容易破片。为了解决这些问题，需要对晶圆背面进行湿法硅腐蚀，去除损伤层，释放晶圆应力，减小翘曲度及使表面粗糙化。使用槽式的湿法机台腐蚀时，晶圆正面及背面均与腐蚀液接触，正面贴的膜必须耐腐蚀，从而保护正面的集成电路。使用单片作业的湿法机台，晶圆的正面通常已被机台保护起来，不会与腐蚀液或者腐蚀性的气体有接触，可以撕膜后再进行腐蚀[3]。晶圆除氮化硅此处用干法氧化法将氮化硅去除晶圆离子注入离子布植将硼离子(B+3)透过SiO2膜注入衬底，形成P型阱离子注入法是利用电场...

晶圆热处理在涂敷光刻胶之前，将洗净的基片表面涂上附着性增强剂或将基片放在惰性气体中进行热处理。这样处理是为了增加光刻胶与基片间的粘附能力，防止显影时光刻胶图形的脱落以及防止湿法腐蚀时产生侧面腐蚀(sideetching)。光刻胶的涂敷是用转速和旋转时间可自由设定的甩胶机来进行的。首先、用真空吸引法将基片吸在甩胶机的吸盘上，把具有一定粘度的光刻胶滴在基片的表面，然后以设定的转速和时间甩胶。由于离心力的作用，光刻胶在基片表面均匀地展开，多余的光刻胶被甩掉，获得一定厚度的光刻胶膜，光刻胶的膜厚是由光刻胶的粘度和甩胶的转速来控制。所谓光刻胶，是对光、电子束或X线等敏感，具有在显影液中溶解性的性...

碳和沙石中的二氧化硅进行化学反应（碳与氧结合，剩下硅），得到纯度约为98%的纯硅，又称作冶金级硅，这对微电子器件来说不够纯，因为半导体材料的电学特性对杂质的浓度非常敏感，因此对冶金级硅进行进一步提纯：将粉碎的冶金级硅与气态的氯化氢进行氯化反应，生成液态的硅烷，然后通过蒸馏和化学还原工艺，得到了高纯度的多晶硅，其纯度高达99.%，成为电子级硅。接下来是单晶硅生长，**常用的方法叫直拉法（CZ法）。如下图所示，高纯度的多晶硅放在石英坩埚中，并用外面围绕着的石墨加热器不断加热，温度维持在大约1400℃，炉中的气体通常是惰性气体，使多晶硅熔化，同时又不会产生不需要的化学反应。为了形成单晶硅，还...

同时，氮化铝耐熔融状态下金属的侵蚀，几乎不受酸的稳定。因氮化铝表面暴露在湿空气中会反应生成极薄的氧化膜，人们利用此特性，将它用作铝、铜、银、铅等金属熔炼的坩埚和烧铸模具材料。也因为氮化铝陶瓷的金属化性能较好，可替代有毒性的氧化铍陶瓷在电子工业中广泛应用。氮化铝的化学式为AlN，化学组成AI约占，N约占。它的粉体为一般是白色或灰白色，单晶状态下则是无色透明的，常压下的升华分解温度达到2450℃。氮化铝陶瓷导热率在170~210W/()之间，而单晶体更可高达275W/()以上。热导率高(＞170W/m·K)，接近BeO和SiC；热膨胀系数(×10-6℃)与Si(×10-6℃)和GaAs...

第四加热区域、第五加热区域、第六加热区域和第七加热区域设置于第二加热区域和第三加热区域外圆周；每个加热区域上均设置有若干弧形凹槽，且每个加热区域内的弧形凹槽均与相邻的弧形凹槽连接，使每个加热区域内的弧形凹槽形成串联；每个加热区域内均设置有一根加热丝，加热丝嵌于弧形凹槽内；底板与加热盘扣合；若干垫柱设置于加热盘上。其中，加热盘上还设有限位柱，限位柱用于限定晶圆在加热盘上的位置。其中，底板上均设置有温度传感器。其中，底板上设置有过温保护器。其中，垫柱为peek材料，高度为。其中，加热器外圆周上还套设有隔热环。三、本发明的有益效果与现有技术相比，本发明的晶圆加热器具通过七个加热区域，且每个加...

本发明的第二个实施例：和***实施例相比之下，第二实施例的特点是在中心点o处增加了封闭的热环5。实际如图5所示，所有加热片中心的自由端与封闭的热环5固定连接；对于热环5的形状可以是椭圆形构造，为了确保电阻阻值的一致，加热片需固定到椭圆形热环5轴对称位置。但是，如果所述热环5的形状是圆形，则热环5只需等间距分布即可。进一步地，所述加热片的数目是两组，包括：***加热片6和第二加热片7；所述***加热片6的***迂回端61和第二加热片7的第二迂回端71彼此纵横组成曲折的留置区8。所述中心点o设有热环5且热环5与两组加热片连通的自由端分别通过***电极91和第二电极92的与电源连接。固定到环...

晶圆热处理在涂敷光刻胶之前，将洗净的基片表面涂上附着性增强剂或将基片放在惰性气体中进行热处理。这样处理是为了增加光刻胶与基片间的粘附能力，防止显影时光刻胶图形的脱落以及防止湿法腐蚀时产生侧面腐蚀(sideetching)。光刻胶的涂敷是用转速和旋转时间可自由设定的甩胶机来进行的。首先、用真空吸引法将基片吸在甩胶机的吸盘上，把具有一定粘度的光刻胶滴在基片的表面，然后以设定的转速和时间甩胶。由于离心力的作用，光刻胶在基片表面均匀地展开，多余的光刻胶被甩掉，获得一定厚度的光刻胶膜，光刻胶的膜厚是由光刻胶的粘度和甩胶的转速来控制。所谓光刻胶，是对光、电子束或X线等敏感，具有在显影液中溶解性的性...

这也使得控制温度在目标温度士20°C范围内波动，波动范围较大。发明内容本发明所要解决的技术问题是提供一种能够在高频加热时将工件温度控制在目标温度士5°C范围内的温度控制装置及方法。为达到上述目的，本发明提供一种高频加热时精确控制温度的装置及方法，其中，装置包括有对物件进行升温的高频机，监测物件温度并反馈正比电压信号的温度测控模块和接收电压信号并控制高频机输出功率的信号调理模块。加热方法，包括有如下步骤第一步，开始高频加热，高频机满负荷加热升温，温度测控模块监测物件温度，当物件温度距目标温度80120°C时，改为动态功率加热；第二步，温度测控模块根据不同温度，反馈与温度成正比的电压值，信...

本发明具如下有益于效用：通过将轴对称改成中心对称、将ω形状的加热板中心改成单独分体或封闭环形的构造，以及合理配置留置区和电压位置的安装，化解了传统加热板的构造的缺点，提高了采用的稳定性，增加了加热板的寿命。附图说明图1为传统加热片的构造示意图；图2为传统加热片的一种损坏方法；图3为传统加热片的另一个损坏方法；图4为本发明的一种加热板构造；图5为本发明的另一种加热板构造。图中，o中心点、1热弧板、2半圆形热片、21拐点、22空隙、3左电极、4右电极、5热环、6***加热片、60***热弧片、61***迂回端、7第二加热片、70第二热弧片、71第二迂回端、8留置区、91***电极、92第二...

电极和布线用的铝合金（Al-Si,Al-Si-Cu）等都是利用溅射法形成的。**常用的溅射法在平行平板电极间接上高频（）电源，使氩气（压力为1Pa）离子化，在靶材溅射出来的原子淀积到放到另一侧电极上的基片上。为提高成膜速度，通常利用磁场来增加离子的密度，这种装置称为磁控溅射装置（magnetronsputterapparatus），以高电压将通入惰性氩体游离，再藉由阴极电场加速吸引带正电的离子，撞击在阴极处的靶材，将欲镀物打出后沉积在基板上。一般均加磁场方式增加电子的游离路径，可增加气体的解离率，若靶材为金属，则使用DC电场即可，若为非金属则因靶材表面累积正电荷，导致往后的正离子与之相...