您好,欢迎访问

商机详情 -

长宁区国产HTOL测试机

来源: 发布时间:2023年07月20日

提供可靠性测试整体解决方案:可靠性设备,HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可靠性测试需求。涵盖模拟,数字,混合信号,SOC,RF等各类芯片的可靠性方案设计,原理图设计,PCBlayout加工制作,老化程序开发调试,可靠性测试实验,出具可靠性报告等一条龙服务。20年以上的丰富测试技术积累及运营经验,拥有多项发明专利及软件著作权,自成立以来,已经为超过500家半导体公司提供高质量,高效率,低成本,一条龙的上等测试解决方案!上海顶策科技有限公司自成立以来,已经为超过500家半导体公司提供高质、高效、低成本测试解决方案。长宁区国产HTOL测试机

包括:将所述源极101和漏极102均悬空,在所述控制栅106上施加***擦除电压vc1,在所述衬底100上施加第二擦除电压vc2;其中,所述***擦除电压vc1为负电压,所述第二擦除电压vc2为正电压。所述***擦除电压vc1的范围为-10v~-8v,本实施例中例如为-9v;所述第二擦除电压vc2的范围为8v~10v,本实施例中例如为9v;擦除过程中的脉冲宽度为10ms~20ms。本实施例中,闪存参考单元的擦除原理是基于fowler-nordheim隧穿(简称为fn隧穿),通过在衬底100上施加正电压,在控制栅106上施加负电压,以在隧穿氧化层103中注入空穴,同时减少浮栅104中的电子。长宁区国产HTOL测试机TH801智能老化系统,方便灵活配置芯片状态、施加信号,提高HTOLdebug及Setup效率。

一种闪存htol测试方法,包括:提供待测闪存,所述闪存包括闪存参考单元和闪存阵列单元;所述闪存参考单元中捕获有空穴;对所述闪存参考单元循环进行编译和擦除,以在所述闪存参考单元中引入电子;对所述闪存进行htol测试,所述引入电子在所述htol测试过程中部分丢失,以对htol测试过程中所述空穴的丢失形成补偿。具体的,待测闪存在同一闪存芯片(die)中的不同区域分布有闪存参考单元和闪存阵列单元,闪存阵列单元用于存储数据,闪存参考单元用于提供参考阈值电压以区分闪存阵列单元的状态。提供的待测闪存在其生产工艺过程中易在闪存参考单元中捕获。引入)空穴,所述空穴在htol测试过程中存在丢失。图2为本发明实施例的闪存参考单元的结构示意图,

上海顶策科技有限公司,提供可靠性测试整体解决方案,包括HTOL、LTOL、双85、HAST等可靠性设备,以及测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可靠性测试需求。自主研发TH801智能一体化HTOL测试机,实时监测并记录环境温度,以及每颗芯片电压,电流,频率,寄存器状态等数据,确保芯片处于正常HTOL状态,保证HTOL测试质量。通过监测数据,可实时发现问题并介入分析,大幅提高HTOL效率,节省更多时间、FA成本。全程数据记录,让HTOL问题更容易分析,更有追溯性;有全程HTOL数据记录,让报告更有说服力,下游客户更放心。上海顶策科技TH801智能老化系统,实时监测并记录环境温度,具体到每颗芯片的状态数据。

闪存参考单元包括:衬底100,位于所述衬底中的导电沟道、位于所述导电沟道两侧的源极101和漏极102,位于导电沟道上方的栅极单元,所述栅极单元从下到上依次包括隧穿氧化层103、浮栅104、栅间介质层105以及控制栅106,所述栅极单元的两侧分布有侧墙107。栅间介质层105例如可以为依次层叠的氧化硅层、氮化硅层和氧化硅层的多层结构,即为ono结构。具体的,闪存在其生产工艺过程中易在闪存参考单元的隧穿氧化层103中捕获(引入)空**3为本发明实施例的对闪存参考单元进行编译示意图,如图3所示,对所述闪存参考单元进行编译,包括:在所述源极101上施加***编程电压vb1,在所述漏极102上施加第二编程电压vb2,在所述控制栅106上施加第三编程电压vb3,在所述衬底100上施加第四编程电压vb4;其中,所述***编程电压vb1小于所述第二编程电压vb2;所述第二编程电压vb2小于所述第三编程电压vb3。所述***编程电压的范围为~0v,所述第二编程电压的范围为~,所述第三编程电压vb3的范围为8v~10v,所述第四编程电压vb4的范围为~-1v,编译过程中的脉冲宽度为100μs~150μs。编译通过热电子注入的方式对所述浮栅104中注入电子。上海顶策科技有限公司可靠性测试服务,涵盖模拟,数字,混合信号,SOC,RF等各类芯片的可靠性方案设计。长宁区国产HTOL测试机

TH801智能老化系统,全程HTOL数据记录,让质量报告更有说服力,下游客户更放心。长宁区国产HTOL测试机

芯片ATE程序开发及FT测试FT(FinalTest)是芯片在封装完成以后进行的*终的功能和性能测试,是产品质量控制*后环节,通过ATE+Handler+loadboard检测并剔除封装工艺和制造缺陷等生产环节问题的芯片。测试程序覆盖功能和全pin性能参数,并补充CP未覆盖的功能。服务内容:老化方案开发测试硬件设计ATE开发调试可靠性试验在要求点(如0、168、500、1000 hr)进行 ATE 测试,确定芯片是否OK, 记录每颗芯片的关键参数,并分析老化过程中的变化。长宁区国产HTOL测试机

上海顶策科技有限公司是一家集研发、制造、销售为一体的****,公司位于三鲁公路3279号1幢裙楼226室,成立于2014-11-24。公司秉承着技术研发、客户优先的原则,为国内芯片测试服务,芯片测试设备,HTOL老化炉的产品发展添砖加瓦。主要经营芯片测试服务,芯片测试设备,HTOL老化炉等产品服务,现在公司拥有一支经验丰富的研发设计团队,对于产品研发和生产要求极为严格,完全按照行业标准研发和生产。上海顶策科技有限公司研发团队不断紧跟芯片测试服务,芯片测试设备,HTOL老化炉行业发展趋势,研发与改进新的产品,从而保证公司在新技术研发方面不断提升,确保公司产品符合行业标准和要求。上海顶策科技有限公司严格规范芯片测试服务,芯片测试设备,HTOL老化炉产品管理流程,确保公司产品质量的可控可靠。公司拥有销售/售后服务团队,分工明细,服务贴心,为广大用户提供满意的服务。

标签: HTOL测试机

扩展资料

HTOL测试机热门关键词

HTOL测试机企业商机

HTOL测试机行业新闻

推荐商机