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普陀区智能HTOL测试机

来源: 发布时间:2022年11月25日

一种闪存htol测试方法,包括:提供待测闪存,所述闪存包括闪存参考单元和闪存阵列单元;所述闪存参考单元中捕获有空穴;对所述闪存参考单元循环进行编译和擦除,以在所述闪存参考单元中引入电子;对所述闪存进行htol测试,所述引入电子在所述htol测试过程中部分丢失,以对htol测试过程中所述空穴的丢失形成补偿。具体的,待测闪存在同一闪存芯片(die)中的不同区域分布有闪存参考单元和闪存阵列单元,闪存阵列单元用于存储数据,闪存参考单元用于提供参考阈值电压以区分闪存阵列单元的状态。提供的待测闪存在其生产工艺过程中易在闪存参考单元中捕获。引入)空穴,所述空穴在htol测试过程中存在丢失。图2为本发明实施例的闪存参考单元的结构示意图,TH801智能老化系统,监测数据异常自动报警,实时发现问题并介入分析,可以整体降低30~50%的成本。普陀区智能HTOL测试机

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闪存参考单元的隧穿氧化层103中会捕获一些主要从生产工艺带来的浅能级的空穴,在浮栅里面会注入所需要的电子。编译过程中浮栅104可以捕获电子,擦除过程中隧穿氧化层103会捕获空穴;在经过多次的编译以及擦除后,会在浮栅104中有更多的电子,隧穿氧化层103中有更多的空**7中经编译和擦除循环后电子空穴的净值(差值)与未经编译和擦除循环的电子空穴的净值(差值)相等,从而保证闪存参考单元编译和擦除循环后的输出电流与编译和擦除循环前的输出电流是相等的。擦除过程中隧穿氧化层捕获的空穴为深能级的空穴,这些深能级的空穴不容易移动,而在浮栅里面捕获的电子比较活跃,在htol测试过程中高温下会比较容易丢失,从而补偿了闪存参考单元从生产工艺带来的浅能级的空穴在htol测试过程中的丢失。上海顶策科技智能HTOL系统,实时监测并记录环境温度,以及每颗芯片电压,电流,频率,寄存器状态等数据。

    3.试验方法标准试验方法备注JESD22-A108F-20171.应力持续时间应符合要求,在必要时进行测量;2.如果制造商提供了验证数据,不需要在偏置下进行冷却。中断偏置1min,不应认为消除了偏置。1.测量所用时间不应纳入器件试验时间;2.偏置指电源对引脚施加的电压。,一般在老化结束96h内进行;2.在消除偏置之前,器件在室温下冷却到稳定状态的10℃以内。如果应力消失,则试验时间延长。GJB548B-2015方法:1.四种标准都保证了器件高温工作时间的完整性。————————————————版权声明:本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章,遵循,转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接:。 上海顶策科技有限公司提供可靠性测试整体解决方案,以及测试方案制定,PCB设计制作,测试试验。普陀区智能HTOL测试机

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