您好,欢迎访问

商机详情 -

奉贤区HTOL测试机私人定做

来源: 发布时间:2022年10月18日

高质量、高效率、低成本HTOL测试方案,上海顶策科技有限公司自主研发TH801智能一体化HTOL测试机,拥有多项发明专利及软件著作权,可实时发现问题并介入分析,大幅提高HTOL效率。自主研发在线实时单颗监测技术,通过监测数据,可以实时发现问题并介入分析,大幅提高HTOL效率,节省更多时间、FA成本,全程数据记录,让HTOL问题更容易分析,更有追溯性,有全程HTOL数据记录,让报告更有说服力,下游客户更放心。上海顶策科技有限公司自成立以来,已经为超过500家半导体公司提供高质量,高效率,低成本,一条龙测试解决方案!上海顶策科技有限公司提供可靠性测试整体解决方案,以及测试方案制定,PCB设计制作,测试试验。奉贤区HTOL测试机私人定做

    那么IC在使用期的寿命测试中的HTOL是什么呢?使用期的寿命测试又包含高温工作寿命(HTOL)和低温工作寿命(LTOL),对于亚微米级尺寸的器件,热载流子效应对于器件寿命有着***的影响,低温工作时相对比较苛刻,所以像存储器、处理器等纳米级别工艺的产品通常需要进行低温工作寿命测试。而对于。进行HTOL(HighTemperatureOperationLife)测试的目的就是为了确定长时间的电气偏差和温度对器件的影响,评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力,也就是在正常工作的寿命期间潜在的固有故障被加速,这样就可以在相对比较短的时间内模拟出产品的正常使用寿命。HTOL是在产品放行和批量生产前进行评估,对应浴缸曲线曲线的UsefulLife期,通常是抽样进行的。此外,HTOL还可以用于可靠性监控以及对存在潜在缺陷的产品进行风险评估。 奉贤区HTOL测试机私人定做上海顶策科技有限公司可靠性测试服务,涵盖模拟,数字,混合信号,SOC,RF等各类芯片的可靠性方案设计。

上海顶策科技有限公司(Topictest)推出的TH801,智能在线监控动态老化设备,可以监控的参数除了整板的电压,电流,还可以根据需求,监控到老化中每颗芯片的电压、电流,寄存器数据,时间,频率等诸多参数,并实时记录保存成Excel文档。这样不仅可以确保每颗芯片都处于正常的老化状态,保证老化测试的质量,同时还可以清楚地知道具体失效的参数,以及在什么时间点失效等诸多信息,非常有益于失效后的FA分析。另外由于可以监控更多芯片参数,这使得免除ATE回测成为可能,这将大幅度提高老化测试效率,节省更多人力成本!这项技术目前已在对芯片质量要求较高的芯片设计公司广泛应用。

    MIL-STD-883K-2016:稳态反向偏置S级**少时间有240h到120h共6个级别;B级**少时间352h到12h共10个级别;K级**少时间从700h到320h共6个级别。S级最低温度从125℃到150℃共6个级别;B级别最低温度从100℃到250℃;K级最低温度从100℃到125℃。电压大小全部为额定电压B:稳态正向偏置C:稳态功率反向偏置D:并联励磁E:环形振荡器F:温度加速试验————————————————版权声明:本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章,遵循,转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接:blog./qq_36671997/article/details/。 上海顶策科技智能HTOL系统,实时监测并记录环境温度,确保芯片处于正常HTOL状态,保证HTOL测试质量。

闪存HTOL测试方法与流程本发明涉及半导体制造领域,尤其涉及一种闪存htol测试方法。背景技术:闪存(flashmemory)是一种非易失性的存储器,其具有即使断电存储数据也不会丢失而能够长期保存的特点。故近年来闪存的发展十分迅速,并且具有高集成度、高存储速度和高可靠性的闪存存储器被广泛应用于包括电脑、手机、服务器等电子产品及设备中。在半导体技术领域中,htol(hightemperatureoperatinglifetest,高温操作生命期试验)用于评估半导体器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力。对于闪存的可靠性而言,在数万次的循环之后的htol是一个主要指数。通常而言,闪存产品需要在10000次的循环之后,通过1000小时的htol测试。闪存htol实际测试中存在若干小时后闪存测试读点(例如读“0”)失效,亟需解决闪存htol测试中读点失效的问题。TH801智能老化系统,实时参数正态分布图,散点图等分析数据,有利于分析芯片性能参数。奉贤区HTOL测试机私人定做

上海顶策科技智能HTOL系统,全程数据记录,让HTOL问题更容易分析,更有追溯性。奉贤区HTOL测试机私人定做

发明人检查失效的原因,发现读点失效为读“0”失效,并且进一步研究发现闪存参考单元的输出电流iref在48小时的测试值iref1与在初始的测试值iref0之间有偏移,具体偏移量经测试统计在4μa以内,而且iref1<iref0,即48小时后iref往电流变小的方向偏移。闪存测试中,若iref>i,则读出“0”(即闪存读“0”操作时,iref>i)。闪存判断读“0”的具体操作过程为:将闪存参考单元的输出电流iref与闪存阵列单元的输出电流i的差值经由读出放大器进行比对判断。当差值变弱到由读出放大器无法进行识别时,读“0”失效。当htol可靠性验证经过***时间点例如48小时后,由于闪存参考单元的输出电流iref往电流变小的方向偏移即iref变小,如此一来,闪存参考单元的输出电流iref与闪存阵列单元的输出电流i的差值变小,超出读出放大器识别范围,于是读“0”失效。测试发现经48小时闪存参考单元的输出电流iref往电流变小的方向偏移后,进一步做htol测试,闪存参考单元的输出电流iref在第三时间点例如168小时,第四时间点例如500小时,第五时间点例如1000小时测试均不会进一步偏移。奉贤区HTOL测试机私人定做

上海顶策科技有限公司是一家集研发、生产、咨询、规划、销售、服务于一体的生产型企业。公司成立于2014-11-24,多年来在芯片测试服务,芯片测试设备,HTOL老化炉行业形成了成熟、可靠的研发、生产体系。主要经营芯片测试服务,芯片测试设备,HTOL老化炉等产品服务,现在公司拥有一支经验丰富的研发设计团队,对于产品研发和生产要求极为严格,完全按照行业标准研发和生产。上海顶策科技,TOP ICTEST为用户提供真诚、贴心的售前、售后服务,产品价格实惠。公司秉承为社会做贡献、为用户做服务的经营理念,致力向社会和用户提供满意的产品和服务。上海顶策科技有限公司严格规范芯片测试服务,芯片测试设备,HTOL老化炉产品管理流程,确保公司产品质量的可控可靠。公司拥有销售/售后服务团队,分工明细,服务贴心,为广大用户提供满意的服务。

标签: HTOL测试机

扩展资料

HTOL测试机热门关键词

HTOL测试机企业商机

HTOL测试机行业新闻

推荐商机