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智能HTOL测试机设计

来源: 发布时间:2022年09月23日

发明人检查失效的原因,发现读点失效为读“0”失效,并且进一步研究发现闪存参考单元的输出电流iref在48小时的测试值iref1与在初始的测试值iref0之间有偏移,具体偏移量经测试统计在4μa以内,而且iref1<iref0,即48小时后iref往电流变小的方向偏移。闪存测试中,若iref>i,则读出“0”(即闪存读“0”操作时,iref>i)。闪存判断读“0”的具体操作过程为:将闪存参考单元的输出电流iref与闪存阵列单元的输出电流i的差值经由读出放大器进行比对判断。当差值变弱到由读出放大器无法进行识别时,读“0”失效。当htol可靠性验证经过***时间点例如48小时后,由于闪存参考单元的输出电流iref往电流变小的方向偏移即iref变小,如此一来,闪存参考单元的输出电流iref与闪存阵列单元的输出电流i的差值变小,超出读出放大器识别范围,于是读“0”失效。测试发现经48小时闪存参考单元的输出电流iref往电流变小的方向偏移后,进一步做htol测试,闪存参考单元的输出电流iref在第三时间点例如168小时,第四时间点例如500小时,第五时间点例如1000小时测试均不会进一步偏移。上海顶策科技有限公司可靠性测试部,提供芯片可靠性测试整体解决方案。智能HTOL测试机设计

20年以上的丰富测试技术积累及运营经验,拥有多项发明专利及软件著作权,上海顶策科技有限公司自成立以来,已经为超过500家半导体公司提供高质量,高效率,低成本,一条龙测试解决方案!可靠性测试事业部提供可靠性测试整体解决方案,包括HTOL、LTOL、双85、HAST等可靠性设备,以及测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可靠性测试需求。自主研发在线实时单颗监测技术,通过监测数据,可实时发现问题并介入分析,大幅提高HTOL效率,节省更多时间、FA成本,让HTOL问题更容易分析,更有追溯性,让报告更有说服力,下游客户更放心。智能HTOL测试机设计集成电路动态老化设备,上海顶策科技有限公司自主研发TH801智能一体化HTOL测试机。

    GJB548B-2015方法,否则采用额定工作电压S级**少时间有240h到120h共6个级别;B级**少时间160h到12h共10个级别;H级**少时间352h到80h共11级别;K级**少时间从700h到320h共6个级别。S级最低温度从125℃到150℃共6个级别;B级别最低温度从125℃到250℃;H级最低温度从100℃到150℃;K级最低温度从100℃到125℃。————————————————版权声明:本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章,遵循,转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接:。

本发明实施例的闪存参考单元未经过编译和擦除的电荷分布示意图;发明实施例的闪存参考单元经过编译和擦除后的电荷分布示意图。图8为本发明实施例的闪存参考单元经过编译和擦除循环后再进行htol测试的输出电流iref分布图。其中,具体标号如下:100-衬底;101-源极;102-漏极;103-隧穿氧化层;104-浮栅;105-栅间介质层;106-控制栅;107-侧墙;具体实施方式本发明提供一种闪存htol测试方法,以下结合附图和具体实施例作进一步详细说明。根据下面说明,本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精细的比例,*用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。图1为本发明实施例的闪存htol测试方法流程图,上海顶策科技自主研发实时单颗监测技术,可灵活配置芯片工作状态,并施加信号,非常方便HTOL Setup。

    4.失效判据标准失效判据备注JESD22-A108F-2017如果器件不符合采购文件要求,则认为失效。:1.四种标准的失效判据都根据相应的标准执行。————————————————版权声明:本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章,遵循,转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接:。4.失效判据标准失效判据备注JESD22-A108F-2017如果器件不符合采购文件要求,则认为失效。:1.四种标准的失效判据都根据相应的标准执行。————————————————版权声明:本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章,遵循,转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接:。 TH801智能老化系统,自有发明专利智能实时在线监测技术。智能HTOL测试机设计

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    3.试验方法标准试验方法备注JESD22-A108F-20171.应力持续时间应符合要求,在必要时进行测量;2.如果制造商提供了验证数据,不需要在偏置下进行冷却。中断偏置1min,不应认为消除了偏置。1.测量所用时间不应纳入器件试验时间;2.偏置指电源对引脚施加的电压。,一般在老化结束96h内进行;2.在消除偏置之前,器件在室温下冷却到稳定状态的10℃以内。如果应力消失,则试验时间延长。GJB548B-2015方法:1.四种标准都保证了器件高温工作时间的完整性。————————————————版权声明:本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章,遵循,转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接:。 智能HTOL测试机设计

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