杭州在线式高温计调试

半导体制造的晶圆加工、薄膜沉积等环节，对温度精度要求更高。EX-SMART 系列光纤双色红外测温仪（350℃~3300℃）三模式测温，可根据不同工艺阶段切换模式，1ms 超快速响应捕捉晶圆温度细微变化，避免因温度波动导致的电路缺陷。其抗电磁干扰设计与耐高温光纤，适配半导体制造的复杂电磁环境与高温工艺，配合 RS485/RS232 通讯接口，实现温度数据与自动化系统无缝对接，助力半导体企业提升生产效率与产品良率。此外，思捷光电与高校、行业前沿企业合作，持续优化产品性能，为新能源产业测温需求提供更前沿的解决方案。软件可记录双色值与双单色通道值，便于多维度分析。杭州在线式高温计调试

MARS 系列单色红外测温仪凭借高稳定性与准确度，成为半导体行业单晶硅、多晶硅生产的理想选择。该系列针对半导体工艺优化，MARS-S-7025、MARS-G-3530 等型号适配 700℃~3000℃高温范围，测量精度 ±0.5% T，分辨率 0.1℃，重复精度 ±2℃，能准确控制长晶炉、退火炉的温度波动，保障晶体生长质量。适配设计突出：探测器采用 Si 硅光电池（MARS-S 系列，工作波长 0.85~1.1μm）或 InGaAs 铟镓砷（MARS-G 系列，1.45~1.7μm），窄带红外滤减少光谱干扰，降低发射率变化对测量的影响。距离系数涵盖 60:1、100:1、200:1，搭配手动可调焦镜头（标准焦距 0.45m 至无穷远），可准确捕捉炉内小目标温度，如直径 5mm 的硅晶体。抗干扰与防护设计适配半导体洁净车间需求：内置 EMI 滤波器，可抗 2500VDC 脉冲群干扰，避免高频设备干扰；防护等级 IP65，可选带吹扫套的安装支架，防止粉尘污染镜头。接口支持 RS485 通讯与可编程模拟量输出，可集成至半导体自动化控制系统，实现温度数据实时采集与闭环控制，适配单晶硅铸锭、晶圆加工、薄膜沉积等关键工艺。杭州在线式高温计调试计算机软件著作权，赋能红外测温仪智能功能。

EX-SMART-F 系列光纤式红外测温仪的光纤长度支持定制，可选 2.5m、3m、5m、10m 或用户指定长度，灵活适配不同安装距离需求，解决复杂工业场景的布线难题。光纤采用铠装设计，抗冲击、抗腐蚀，可在狭窄空间、高温区域灵活布线，将镜头与主机分离安装，主机远离热源与干扰源，提升测量稳定性。光纤长度选择需结合安装距离与信号衰减，短距离安装（＜5m）可选 2.5m、3m 光纤，信号衰减小，测量精度高；长距离安装（5m~10m）可选 5m、10m 光纤，仪器自带信号补偿功能，仍能保持稳定精度；超过 10m 需提前沟通定制，确保信号传输质量。例如在大型水泥窑测温中，需将镜头安装在窑壁，主机安装在控制室，可选择 10m 光纤，实现远距离监测。光纤与镜头、主机的连接采用密封设计，防护等级 IP65，防止水汽、粉尘侵入，配合吹扫装置（压力 0.1MPa，流量 6L/min），可在多尘、高温环境长期稳定运行。光纤长度定制化设计使仪器适配多样化安装场景，提升工业应用的灵活性与适用性。

MARS系列单色红外测温仪凭借宽量程与高适应性，广泛应用于热处理、金属加工、半导体等行业，涵盖MARS-S、MARS-G、MARS-EXG三大子系列，测温范围从150℃延伸至3050℃分段区间，可匹配不同温度需求场景。根据型号差异，采用Si光电池、InGaAs或扩展型InGaAs探测器，搭配对应工作波长（0.85~1.1μm至1.45~2.1μm），确保测量准确。设备测量精度达±0.5%T℃，分辨率0.1℃，重复精度±2℃，调焦范围支持0.45m至无穷远（标准焦距）与0.25m~0.65m（近焦距）。5ms快速响应可定制至3ms，能捕捉动态温度变化。采用PID恒温控制与全量程温度补偿，避免环境温度干扰，工业级OLED屏与人机交互设计简化操作。支持单路模拟量输出与RS485通讯，带水冷时适应-20℃~200℃工况，是通用性极强的工业测温设备。思捷红外测温仪，国内专业比色测温供应商。

有色金属（如铝、铜、锌）的冶炼过程中，被测材料的发射率较低（铝的发射率 0.02~0.4），且表面易氧化（氧化后发射率升高），传统红外测温仪易因发射率变化导致测量误差。常州思捷的 STRONG 系列双色红外测温仪与 MARS 系列单色红外测温仪，通过针对性的技术设计，实现有色金属冶炼过程的准确测温。在铝锭加热环节，铝锭需加热至 500℃~600℃的轧制温度，其表面发射率约为 0.2~0.3，且加热过程中局部氧化会导致发射率升高至 0.4。此时选用 STRONG-GR 系列双色红外测温仪（250℃~2600℃），其双色模式通过两个波长的能量比值计算温度，发射率变化对比值影响极小 —— 即使铝锭表面氧化导致发射率从 0.2 升至 0.4，测量误差仍可控制在 ±0.5% T 以内，远低于单色仪的 ±2% 误差。设备的距离系数 60:1~100:1，可适配铝锭加热炉的中距离测温（如 3 米外测量 100mm 直径的铝锭），避免高温辐射对设备的损伤。思捷红外测温仪，拥有二十多年研发技术积淀。杭州在线式高温计调试

第三代半导体长晶，红外测温仪管控晶体生长温度。杭州在线式高温计调试

工业现场的高温、高粉尘、高水汽环境（如钢铁高炉、水泥窑、玻璃炉），会严重影响红外测温仪的使用寿命与测量精度 —— 高温可能损坏设备部件，粉尘覆盖镜头会导致信号衰减，水汽会干扰红外辐射传输。常州思捷针对这类场景，为 STRONG、EX-SMART、MARS 系列配备水冷与吹扫装置，形成完善的恶劣环境适配方案。水冷装置的作用是为设备降温，分为测温仪主体水冷与镜头水冷两类。以 STRONG 系列带水冷型号为例，设备主体可耐受 - 20℃~+200℃的环境温度，冷却水需满足压力 0.2MPa、流量 2L/min 的要求，通过循环水带走设备热量，避免高温导致的电路故障或探测器性能漂移；对于 EX-SMART 系列的光纤式产品，镜头及光纤可耐受 250℃高温，无需额外水冷，但设备主体仍可搭配水冷套，适配炉体周边的高温环境。在水泥窑测温场景中，窑体表面温度可达 180℃，带水冷的红外测温仪可长期稳定工作，而无水冷设备可能因高温频繁故障。杭州在线式高温计调试