手持光谱仪

及时的样品分析对于采矿作业来说至关重要，可以提高采矿的发现成功率、生产率和利润。X-MET8000 是一种手持式X射线荧光（XRF) 光谱仪，用于采矿过程各个阶段的地质化学分析。该仪器使用方便，有助于大幅降低实验室分析的需求及其相关成本。使用X-MET，您可以现场作出决策，而无需等待数小时甚至数天以获得实验室分析结果。相比于其他手持式 XRF 光谱仪，我们的大面积硅漂移探测器 (SDD) 和**性的 BOOSTTM 技术可提供精确测量关键元素（例如杂质元素）所需的低检测限。一般手持光谱仪的工作温度是-10℃-50℃你行它也行，只要操作者能工作的地方，仪器都可以使用。手持光谱仪

激光光谱仪近年来取得了较大进展。现在激光器的发展使得可以在样品表面上发射小而强大的激光束，物体表面上的少量物质被激光消散，形成由来自样品的分子组成的激发等离子体。随着等离子体冷却，样品中的每个元素发出其特征波长，并且通过光缆收集光的波长，分析材料的组成成分。激光光谱仪提供的关键优势是速度非常快，可以在一秒钟内完成测试。该技术特别适用于测量铝合金，使其可用于分类废金属。样品可以是导电的或不导电的，但在测试之前需要表面没有污垢和污染物。虽然LIBS会在样品上留下小的激光烧伤，但通常认为它是表面粗糙度而不是产品上的缺陷，这意味着LIBS实际上是一种非破坏性的技术。手持光谱仪手持光谱仪具有较高的测量准确性，为了保持提高检测的准确性，将仪器性能发挥到***。

由于新材料的开发应用，汽车工程和制造业发生了重大转变，必须在电动汽车生产的许多阶段验证这些新材料的确切规格。而材料分析仪可对电动汽车的顺利生产（从原材料的来料检验到整个制造过程的质量控制）发挥至关重要的作用。日立的一系列分析仪专为特定应用领域设计，从精确的零部件金属成分分析到ppm含量级别的熔体分析。无论对于汽车设备制造商还是供应链的参与者而言，日立的分析仪都有助于加快其材料检测计划的进度。若需要一款分析仪用于开发和生产电动汽车的过程中分析金属，则日立的直读光谱仪是理想的选择。

工业制造领域总会产生不少金属废料，这些金属废料很多可以回收利用。比如废旧电器中可以提取出大量有用的部件和金属，废金属回收在缓解二手资源浪费和环境污染中发挥着重要作用。对于废金属回收行业来说，准确便携的手持合金分析仪可以帮助合***号辨别和金属成分分析。依托日立数字化、智能化的行业解决方案，日立手持合金分析仪可测量的元素含量低达PPM级，有力的监控有害元素。根据日立手持式光谱分析仪检测数据，迅速实现废料分拣，提高工作效率，并且根据实时金属成分，以便于回收站快速估算废品价值，获得更高的收益。不锈钢系列300多个标准300系列不锈钢系列有57多种标准合金和许多专有合金，以适应其必须承受的特定环境。300系列不锈钢由约18%至30%的铬和6%至20%的镍组成。该系列比400系列不锈钢具有更高的耐腐蚀性，在高温下易于维护和保持良好的结构。300系列不锈钢零件302HQ、303、304等，300系列是所有不锈钢合金中**常用的。

手持光谱仪X-MET8000可以准确分析检测分析汽车三元催化剂中的铂、钯、铑贵金属含量，误差在5-10%以内。

上海秦治实业有限公司是日立X-MET8000系列手持合金分析中国区***代理商。作为工业与实验室分析仪器系统解决方案服务商，我们致力于为中国客户提供全球***的分析仪器、专业的应用技术支持、质量的售后服务等系统解决方案。手持合金分析仪从仪器射线管发出射线照射样品，使得样品原子中的电子逃逸形成空穴，外层电子跃入并发射特征X荧光，其能量等于两能级之间的能量差，仪器中的探测器捕捉特征X荧光能量转化为电子脉冲信号，被放大并传输和运算，被转化为元素含量值。手持合金分析仪作为表面检测技术，在铝合金等一些轻合金的检测中，能对几百微米以下的样品表面进行分析。一些主要金属，如铁、铜合金，可以在不超过100微米的检测深度，对于金和铅等致密材料，只能在几十微米的深度测试和分析样品表面。这意味着当手持合金分析仪采用X射线荧光技术进行检测时，如果材料表面不能准确**整个材料的成分，将无法获得可靠的检测数据，表面污染，如油漆、保护层、电镀等可能会造成检测结果的失真。同样经过喷丸、喷砂、砂光等表面处理工序后留在表面的物质也会影响手持合金分析仪的识别结果。因此，在使用手持合金分析仪分析测试结果之前，有必要对样品进行清理。手持光谱仪要求高分辨率和信噪比，更好的强度精度和波长精度以及更强的抗外界干扰能力和良好的仪器稳定性。手持光谱仪

手持式光谱仪的准确度比较高，可以接近实验室水平的分析水平。手持光谱仪

使用手持式X-MET8000光谱仪从金刚石锯片切割的岩石表面进行了代表性的稀土元素分析，以获得每个样品的“标准”表面稀土元素含量，这是获得良好结果所必需的。岩石样品可能非常不均匀，因此化学成分在岩石的不同点上可能变化很大，需要多个测量点来获得代表性的结果。为了验证切割岩石表面的XRF（X射线荧光）结果，在经过认证的实验室中使用ICP-MS（电感耦合等离子体质谱仪）分析了相同的岩石样品，二个结果非常接近。要获得***的总体结果，必须对异质样品进行多次测量。由于岩石基质的异质性，单次测量的变化可能很大，随着测量次数的增加，平均结果的准确性得以提高手持光谱仪

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