锻件超声检测常用技术有:纵波直入射检测、纵波斜入射检测、横波检测。由于锻件外形可能很复杂，有时为了发现不同取向的缺陷，在同一个锻件上需同时采用纵波和横波检测。其中纵波直入射检测是**基本的检测方式。1.轴类锻件的检测方法轴类锻件类缺陷的检测以纵波直探头从径向检测效果比较好。还应辅以直探头在端面的轴向检测,必要时还应附以斜探头的径向检测及轴向检测。(1)直探头径向和轴向检测，用直探头作径向检测时要将探头置于轴的外圆作***扫查,以发现轴类锻件中常见的纵向缺陷。用直探头作轴向检测时,探头置于轴的端面，并在轴端作***扫查,以检出与轴线相垂直的横向缺陷。(2）斜探头周向及轴向检测，需要使用适当折射角的斜探头作周向及轴向检测。考虑到缺陷的取向，检测时探头应作正、反两个方向的***扫查。2.饼类、碗类锻件的检测饼类和碗类锻件用直探头在端面检测是检出缺陷的比较好方法。对于某些重要的饼类、碗类锻件或厚度大的锻件，应从两个端面进行检测,此外有时还需从外圆面进行径向检测。3．筒形或环形锻件的检测筒形或环形锻件的锻造类锻件的检测既需要进行纵波直人射检测,还应进行横波斜探头检测。HUT-3X0系列手持数字超声波探伤仪AVG曲线、DAC曲线的区别及使用方法。山西陶瓷绝缘子探伤仪哪家好
支柱瓷绝缘子及瓷套的超声波探伤检测主要采用下述三种方法，当用一种方法探伤时如发现缺陷，可选用另一种方法验证，也可用参考试块作比对试验，以提高检测结果的准确性，探伤方法如下：1）支柱瓷绝缘子及瓷套法兰胶装区表面和近表面缺陷的超声波探伤采用爬波法；2）支柱瓷绝缘子内部和对称侧表面或近表面缺陷的超声波探伤采用小角度纵波斜入射法；3）瓷套内部和内壁缺陷的超声波探伤采用双晶斜探头横波法。一、爬波法使用并联式结构爬波探头。探头频率为2.5MHZ,晶片尺寸选用10×12双晶片,移动范围较小时采用8×10或6×10双晶片探头。在探头移动范围许可的情况下，宜选择较大晶片探头。探头移动时要求保持与检测面的良好吻合，应选用与试件曲面相匹配的探头。二、小角度纵波法小角度纵波单晶斜探头的选择。在移动范围许可的情况下，宜选择较大角度折射角探头。选择与被检支柱瓷绝缘子曲面相近的探头。探头移动时要求保持与检测面的良好吻合，应选用与试件曲面相匹配的探头。三、双晶斜探头横波法瓷套内部和内壁检测采用双晶横波斜探头。探头频率为5MHZ,晶片尺寸选用8×10双晶片,横波折射角35°-37°。探头移动时要求保持与检测面的良好吻合。山西陶瓷绝缘子探伤仪哪家好HUT-3X0系列手持数字超声波探伤仪检测范围。
钛合金锻件中容易出现的缺陷一、偏析型缺陷除了β偏析、β斑、富钛偏析及条状α偏析外，**危险的是间隙型α稳定偏析(I型α偏析)，其周围常伴有细小的孔洞、裂纹，含有氧、氮等气体，脆性较大。还有富铝型α稳定偏析(II型α偏析)，也因伴有裂纹并有脆性而构成危险性缺陷。二.夹杂物夹杂物的存在容易导致裂纹的发生与扩展，因此是不允许存在的缺陷。三.残余缩孔四.孔洞孔洞不一定单个存在，也可能呈多个密集存在，会使低周疲劳裂纹扩展速度加快，造成提前疲劳破坏。五.裂纹主要指锻造裂纹。钛合金的粘性大，流动性差，加上导热性不好，因而在锻造变形过程中，由于表面摩擦力大，内部变形不均匀性明显以及内外温差大等，容易在锻件内部产生剪切带(应变线)，严重时即导致开裂，其取向一般沿比较大变形应力方向。六.过热钛合金的导热性较差，在热加工过程中除了加热不当造成锻件或原材料过热外，在锻造过程中还容易因为变形时的热效应造成过热，引起显微组织变化，产生过热魏氏组织。
IIW2试块IIW2试块也是荷兰**提出来的国际焊接学会标准试块，由于外形类似牛角，故又称牛角试块。与IIW试块相比，IIW2试块质量轻、尺寸小、形状简单、容易加工和便于携带，但功能不及IIW试块。IIW2试块的材质同IIW。当斜探头对准R25时，R25反射回波一部分被探头接收，显示B1另一部分反射至R50,然后又返回探头，但这时不能被接收因此无回波。当此反射波再次经R25反射回到探头时才能被接收，这时显示B2，它与B的间距为R25+R50。以后各次回波间距均为R25+R50。IIW2试块的主要用途如下:1）测定超声波斜探头的入射点:利用R25与R50圆弧反射面测。2）测定超声波斜探头的折射角:利用φ5mm横通孔测。3）测定超声波探伤仪器水平、垂直线性和动态范围:利用厚度12.5测。4）调整检测范围和扫描速度:超声波纵波直探头利用12.5底面的多次反射波调整，超声波横波斜探头利用R25和R50调整。5）测定超声波探伤仪器和超声波探头的组合灵敏度:利用φ5mm或R50圆弧面测。HUT-3X0系列手持数字超声波探伤仪标准配置 。
CSK-IA试块是我国承压设备无损检测标准JB/T4730—2005中规定的标准试块，是在IIW试块基础上改进后得到的，其结构及主要尺寸如图4—30所示。CSK-IA试块有三点改进:1)将直孔φ50mm改进φ50mm、φ44mm、φ40mm台阶孔，以便于测定横波斜探头的分辨力。2)将R100改为R100、R50阶梯圆弧，以便于调整横波扫描速度和检测范围。3)将试块上标定的折射角改为K值(K=tanβs)，从而可直接测出横波斜探头的K值。CSK-IA试块的其他功能同IIW试块,材质一般同被检工件。(4)CSK-IA,CSK一IA和CSK一ⅣA标准试块CSK-IA,CSK-IIA,CSK-ⅣA试块是JB/T4730—2005标准中规定采用的焊缝超声波检测用的横孔标准试块。CSK-IA结我国的CSK系列标准试块比较特殊，要求试块材质与工件相同或相近。CSK-IA,CSK一IA,CSK-ⅣA试块主要用于测定横波距离一波幅曲线、斜探头的K值和调整横波扫描速度和灵敏度等。其中CSK-IA和CSK-A适用于壁厚范围为8~120mm的焊缝，CSK-ⅣA系列试块用于壁厚范围120～400mm的焊缝。HUT-3X0系列手持数字超声波探伤仪探伤执行标准都有哪些？山西陶瓷绝缘子探伤仪哪家好
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