北京stil传感器应用案例

光谱共焦传感器可以测量几乎任何类型的材料（玻璃，陶瓷，塑料，半导体，金属，织物，纸张，皮革等）制成的样品。它们可以测量抛光表面（镜子，镜片，晶圆）以及粗糙表面。光斑尺寸、比较大采样斜率、工作距离和测量范围，分别是什么概念比较大采样斜率（M，简称MSS），是光轴和样品表面法线之间的比较大角度，在此角度条件下测量依然可行。MSS是测量点处的实际局部斜率，而非理论上“平均曲面”的斜率。此功能*对镜面(镜面状)表面有重要意义；对散射表面，比较大采样斜率更高。对于所有类型的采样，采集信号的强度都随着倾斜角度的增加而减小。光斑尺寸(Spotsize)，指光点的理论尺寸，即光斑的大小。工作距离(WorkingDistance)，光学笔前端到量程近端的距离。测量范围(MeasuringRange，简称MR)，0到比较大可量测值的区间范围。又叫测量行程。光谱共焦传感器，就选马波斯测量科技，有想法的可以来电咨询！北京stil传感器应用案例

速度传感器:是一种将非电量(如速度、压力)的变化转变为电量变化的传感器,适应于速度监测。3.加速度传感器:是一种能够测量加速力的电子设备,可应用在控制、手柄振动和摇晃、仪器仪表、汽车制动启动检测、地震检测、报警系统、玩具、结构物、环境监视、工程测振、地质勘探、铁路、桥梁、大坝的振动测试与分析,以及鼠标,高层建筑结构动态特性和安全保卫振动侦察上液位传感器:利用流体静力学原理测量液位,是压力传感器的一项重要应用,适用于石油化工、冶金、电力、制药、供排水、环保等系统和行业的各种介质的液位测量北京stil传感器应用案例光谱共焦传感器，就选马波斯测量科技，用户的信赖之选，欢迎您的来电哦！

在半导体行业应用：LED芯片三维测量LED晶圆光学检测BGA半导体封装光伏晶圆表面形貌测量涂层厚度时与部件无任何接触。激光和红外传感器可分析2至50厘米距离的涂层。这意味着可以在工业涂层环境中测量部件，即使它们位于移动产线上、在高温环境中，甚至易碎或潮湿环境中。由于激光束产生的热量极少，因此测量过程中涂层和部件都不会被损坏或改变。因此，对于那些迄今已有的方法会破坏测试样品的工业运用，它也可以系统地测量每个部件。测量通常不到一秒钟，具有高度重复性。这样可以控制高达100％的涂层部件，严格遵循涂层工艺性能并实时反应以保持比较好状

Zenith采样频率：400Hz-5000Hz主要优势稳定通过15位编码增强性能，提供测量值稳定性非接触非接触式技术适用于所以不接触被测产品的情况下进行测量。全材料光谱共焦技术可测量各种能够反射的材料（例如：金属、玻璃、塑料、漆膜、液体等）。适配可更换的MARPOSSSTIL光学笔：CL-MG/OP/Endo/Everest系列同步主从模式的多传感器测量，编码器触发功能。应用汽车玻璃玻璃容器和包装行业(PCB)电子工业、3C、半导体行业（硅片）、精密仪器行业、电动车行业（电池）马波斯测量科技为您提供专业的光谱共焦传感器，欢迎新老客户来电！

多个产品同时测量减少成本测量对象可任意摆放，多个产品可同时测量，**节省测量时间，减少用工成本！低畸变图像无变形即便在镜头边缘部位测量，图像畸变也很小，无需担心测量对象所放位置。缺陷过滤测量位置包含有毛边或缺陷时系统能自动识别，排除异常点提高测量的准确度。数据追溯管理更简单测量结果自动保存，可按测量日期、产品名称、产品料号等信息搜索，数据追溯管理简单。测量结果自动保存，可按测量日期、产品名称、产品料号等信息搜索，数据追溯管理简单。检测报告及统计报告都可通过一键完成制作，无需数据传输及电脑输入等繁琐的过程，支持多种格式。光谱共焦传感器，就选马波斯测量科技，让您满意，欢迎新老客户来电！北京stil传感器应用案例

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光谱共焦位移传感器?外形尺寸测量?空气夹层测量?厚度(透明物体)测量?段差高度(非透明物体)测量?外形轮廓测量?表面型貌测量?表面粗糙度测量?表面微小划痕测量?三维测量?平面度测量优势??高分辨率，比较高可达纳米级??高精度，比较高可达16纳米??同轴光测量，相比较三角反射测量，无测量盲区??可以测量几乎所有材料的表面，不论是漫反射表面，或者是高光亮面，或者是透明物体表面??物体表面的颜色对于测量结果没有任何影响，可以解决对于激光难以测量的黑色或者白色物体??可以同时测量多层玻璃或者胶的厚度北京stil传感器应用案例