隐裂是指电池片中出现细小裂纹，电池片的隐裂会加速电池片功率衰减，影响组件的正常使用寿命，同时电池片的隐裂会在机械载荷下扩大，有可能导致开路性破坏，隐裂还可能会导致热斑效应。隐裂的产生是由于多方面原因共同作用造成的，组件受力不均匀，或在运输、倒运过程中剧烈的抖动都有可能造成电池片的隐裂。光伏组件在出厂前会进行 EL 成像检测，所使用的仪器为 EL 检测仪。该仪器利用晶体硅的电致发光原理，利用高分辨率的 CCD 相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺陷。EL 检测仪能够检测太阳能电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池异常现象。上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测，有想法可以来我司咨询。江西外观检测仪
功率衰减分类和光伏组件检测方法伴随着光照时间的增加，产生组件输出功率逐渐下降的现象就是光伏组件功率衰减。光伏组件的功率衰减现象大致能够分成三类：类：因为破坏性因素导致的组件功率衰减；第二类：组件初始的光致衰减；第三类：组件的老化衰减。当中类是在光伏组件安装过程中可控制的衰减，像加强光伏组件卸车、倒运、安装质量控制可降低组件电池片隐裂、碎裂出现的可能等。光伏组件生产过程中亟需解决的工艺问题是第二类和第三类。可以利用光伏组件I-V特性曲线测试仪来完成光伏组件功率衰减测试。江西外观检测仪上海欧普泰科技创业股份有限公司检测服务值得放心。
光伏组件常见的质量问题有热斑、隐裂和功率衰减。由于这些质量问题隐藏在电池板内部，或光伏电站运营一段时间后才发生，在电池板进场验收时难以识别，需借助专业设备进行检测。光伏组件热斑是指组件在阳光照射下，由于部分电池片受到遮挡无法工作，使得被遮盖的部分升温远远大于未被遮盖部分，致使温度过高出现烧坏的暗斑。光伏组件热斑的形成主要由两个内在因素构成，即内阻和电池片自身暗电流。热斑耐久试验是为确定太阳电池组件承受热斑加热效应能力的检测试验。通过合理的时间和过程对太阳电池组件进行检测，用以表明太阳电池能够在规定的条件下长期使用。热斑检测可采用红外线热像仪进行检测，红外线热像仪可利用热成像技术，以可见热图显示被测目标温度及其分布。
安装在系统中的光伏组件由于以下原因可能会造成自身质量问题，从而对系统发电量产生影响：1、市场上有很多劣质组件，有些劣质组件在外观上与正规组件没什么差异，但其发电效率与使用寿命远远不能满足要求。2、大厂家生产的正规组件，在运输搬运过程中也可能出现组件的隐裂，由于组件串联的木桶效应，小的隐裂也可能对整个系统发电量产生大的影响。3、随着1500V系统技术的推进成熟，组件串联木桶效应会越来越严重，单个组件质量问题对系统发电量影响也会越来越大。在电站安装前进行EL检测，可以发现存在隐裂、断栅等质量问题的组件，从而将这些系统中的害群之马除掉，提升发电量。上海欧普泰科技创业股份有限公司为您提供检测，欢迎您的来电！
EL（Electroluminescence，电致发光）是简单有效的检测隐裂的方法。其检测原理如下。电池片的部分是半导体PN结，在没有其它激励（例如光照、电压、温度）的条件下，其内部处于一个动态平衡状态，电子和空穴的数量相对保持稳定。如果施加电压，半导体中的内部电场将被削弱，N区的电子将会被推向P区，与P区的空穴复合（也可理解为P区的空穴被推向N区，与N区的电子复合），复合之后以光的形式辅射出去，即电致发光。当被施加正向偏压之后，晶体硅电池就会发光，波长1100nm左右，属于红外波段，肉眼观测不到。因此，在进行EL测试时，需利用CCD相机辅助捕捉这些光子，然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。给晶硅组件施加电压后，所激发出的电子和空穴复合的数量越多，其发射出的光子也就越多，所测得的EL图像也就越亮；如果有的区域EL图像比较暗，说明该处产生的电子和空穴数量较少，该处存在缺点；如果有的区域完全是暗的，该处没有发生电子和空穴的复合，也或者是所发光被其它障碍所遮挡，无法检测到信号。检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，让您满意，欢迎您的来电！江西外观检测仪
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光伏组件性能的检测光伏电站运行一段时间后，需要进行检测，来确定光伏电站的性能。涉及光伏组件的，主要包含以下项目。1、功率衰减测试光伏组件运行1年和25年后的衰减率到底有多少？25年太久，现在可能还没有运行这么长时间的电站。按国家标准，晶硅电池2年的衰减率应该在3.2%以内。但目前这个数据还真的很难说，原因有三：1）光伏组件出场功率是用实验室标准光源和测试环境标定的，但似乎国内不同厂家的标准光源是存在一定的差异的。那在A厂标定的250W的组件，到了B厂，可能就是245W的组件的。2）现场检测所用的仪器精确度较差，据说5%以内的误差都是可以接受的。用误差5%的仪器，测2%（1年）的衰减，难度有些大，结果也令人怀疑。江西外观检测仪
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