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来源: 发布时间:2024年01月16日

光伏电池产业链为硅料、硅片、电池片、组件、系统五个环节,根据CPIA(中国光伏行业协会)数据,2018年我国多晶硅、硅片、电池片、组件有效产能分别达116.1GW、146.4GW、128.1GW、130.1GW,产量分别为77.7GW、109.2GW、87.2GW、85.7GW(其中多晶硅产能和产量分别为38.7万吨和25.9万吨,折算成GW),我国硅料、硅片、电池片、组件产量占全球总产量的比重分别为58%、90%、73%、72%,是全球比较大的光伏生产国。2010-2018年,我国电池片、硅片、组件产量分别增加了近8倍、10倍和8倍之多。2019年,尽管在政策调整下,我国光伏应用市场有所下滑,但受益于海外市场增长,我国光伏各环节产业规模依旧保持快速增长势头。截至2019年底,我国多晶硅产能达到46.2万吨,同比增长19.4%,产量约34.2万吨,同比增长32.0%;硅片产量134.6GW,同比增长25.7%;电池片产量108.6GW,同比增长27.7%;组件产量98.6GW,同比增长17.0%。随着传统化石能源的日益减少,可再生能源的消耗比重逐年增加,光伏发电的比重更是增加迅速。根据规划预测,到2050年中国的光伏装机达到2000GW,年发电量达2600TWh,占全国总发电量的26%。我国光伏业仍处于成长期,未来发展空间大。上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测,欢迎您的来电!缺陷检测价格

随着国内外对清洁能源需求的增加以及各国对清洁能源补助的提高,光伏组件的需求也在快速增长。为保证产能及组件品质的可靠性,高精度、高速太阳能电池片的全自动焊机成为光伏企业的优先。目前这些设备大多依赖进口,然而进口设备高昂的价格很大程度上增加了太阳能发电的成本,急需研制出高水平的太阳能电池片焊接设备来满足市场的需求。电池片焊接设备的精度、速度与电池片的完整性相关。传统的检测方法精度低、速度慢,而且部分还需依赖人工操作,不能满足市场要求,而基于机器视觉的检测方法能有效地解决这些问题。缺陷检测价格上海欧普泰科技创业股份有限公司为您提供检测,欢迎新老客户来电!

识别“隐裂”的方法EL(Electroluminescence,电致发光)是一种太阳能电池或组件的内部缺点检测设备,是简单有效的检测隐裂的方法。利用晶体硅的电致发光原理,通过辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像,获取并判定组件的缺点。具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点。形成“隐裂”的原因外力:电池片在焊接、层压、装框或搬运、安装、施工等过程中会受外力,当参数设置不当、设备故障或操作不当时会造成隐裂。高温:电池片在低温下没有经过预热,然后在短时间内突然受到高温后出现膨胀会造成隐裂现象,如焊接温度高、层压温度等参数设置不合理。原材料:原材料的缺点也是导致隐裂的主要因素之一。

上海欧普泰科技创业股份有限公司,EL检测仪,又称太阳能组件电致发光缺点检测仪,是跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺点检测及生产工艺监控的测试设备。给晶体硅电池组件正向通入1-1.5倍Isc的电流后硅片会发出1000-1100nm的红外光,测试仪下方的摄像头可以捕捉到这个波长的光并成像于电脑上。因为通电发的光与PN结中离子浓度有很大的关系,因此可以根据图像来判断硅片内部的状况。EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑域,该部分没有发出1150nm的红外光,故红外相片中反映出黑心,此类发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。上海欧普泰科技创业股份有限公司为您提供检测,欢迎您的来电!

太阳能电池片EL自动识别系统通过自动判断太阳能电池片的内部缺点,终实现自动识别,不断提高检测的自动化水平,大幅度减少人工干预,将减少光伏电池片EL检测的人力成本。太阳能电池片EL自动识别系统非常重要,而利用传统算法通过人眼观看的方式识别内部缺点,容易因人眼疲劳发生误判、漏判等状况,影响光伏电池串质量。将电池片放入上料盒,利用风刀分离电池片,机械手将电池片吸附后放至传送带,电池片至检测位置后上电模块夹持电池片进行上电,利用EL(电致发光)原理,相机获取图像将数据以图像形式储存在指定位置,利用AI后台数据分析图像,将识别后的图像显示至显示器并将判别信息给PLC进行分选上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测,有想法的不要错过哦!缺陷检测价格

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隐裂形成的缘由和光伏组件检测方法电池片中出现细小裂纹就是隐裂,隐裂了的电池片会加快电池片功率减退,组件的正常使用寿命被影响了,而且在机械载荷下电池片的隐裂会扩大,有导致开路性破坏的可能,隐裂还有几率会造成热斑效应。因为多方面原因共同作用下造成了隐裂的产生,组件受力不均,还有可能造成电池片的隐裂是在运输、倒运的过程中剧烈的抖动。使用EL检测仪进行EL成像检测是会在光伏组件在出厂前进行的。为了获取并判定组件的缺陷,该仪器利用晶体硅的电致发光原理,利用高分辨率的CCD相机拍摄组件的近红外图像。缺陷检测价格

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