产品的MTBF的基本可靠性特征是平均无故障时间时间,它是指所有受试设备的累积相关试验时间。这里说的时间是可置换为距离循环次数或其它适用于受试设备的量或单位。而失效数是指试验过程中出现的累积相关失效数,MTBF的可靠性试验应对可以计入的相关试验时间及相关失效数加以明确的规定。试验方案中的符号“m”基本的可靠性特征失效前平均时间及失效率等可靠性特征按下述规则换算为平均无故障时间因此本部分的试验方案完全适用于这些特征。产品故障少的就是可靠性高,产品的故障总数与寿命单位总数之比叫“故障率”。甘肃MTBF认证流程
寿命试验(MTBF)方法分为定时截尾试验,定数截尾试验,估算方法为:平均寿命的点估计值、单侧置信下限估计、双侧区间估计。高温工作寿命试验高温寿命试验为利用温度及电压加速的方法,短时间的实验来评估IC产品的长时间操作寿命。MTBF寿命测试方法以及条件一般常见的寿命实验方法有BI(Burn-in)/EFR(EarlyFailureRate)/HTOL(HighTemperatureOperatingLife)/TDDB(TimedependentDielectricBreakdown),对于不同的产品类别也有相对应的测试方法及条件,如HTGB(HighTemperatureGateBias)/HTRG(HighTemperatureReverseBias)/BLT(BiasLifeTest)/IntermittentOperationLife等。甘肃MTBF认证流程在办理MTBF认证时,需要注意保护样品和信息安全。
MTBF除可通过计算得到参考值外,也可以通过加速寿命试验的方法来获得。这种方法可用来预测产品的使用可靠性,但依然不能等同于实际使用的可靠性。加速寿命的试验,可以用不同的应力或应力组合来筛选。例如,根据美国环境科学学会在1981年及1984年发表的环境应力筛选有效性报告,在各种常用的筛选应力中,按其筛选效率加以比较,依次为温度循环、高温、随机振动、电应力、冷热冲击、定频正弦振动、低温、正弦扫描振动、复合环境、机械冲击、湿度、加速度、高度。其中温度循环和随机振动的效率高,
寿命和MTBF的关系单纯提“寿命”这个词,含义是不太明确的。严格来说,只有损耗型产品例如轴承等才有“寿命”的概念。电子产品几乎没有损耗,只有“意外”,因此,追究电子产品的“寿命”是没有意义的。对于电子产品来说,失效率是常数,意味着随时可能发生故障,而且这一秒钟和下一秒钟发生故障的概率是相等的,当然由于电子制造技术的完善,这个概率现在很低,低到10的九次方小时每次(FIT级)的水平。于是,对于电子产品,有意义的概念是每次故障之间的正常工作时间,也就是的MTBF。习惯上,把MTBF(对于不可修系统来说,是MTTF)称作“平均寿命”(也叫“特征寿命”)。电子产品的MTBF认证普遍较高。
比如一台电脑的MTBF数值是3万小时,是不是把这台电脑连续运行3万小时,并且在这3万小时联系运行过程中没有发生故障而得出的结果呢?并不是这样的,如果采用我们刚刚的说法,一台机器在检测过程中发生故障,又重新安排检测这样算下来同款产品用几年时间都没办法检测完成,更不要说在日益变化的现代社会,更新换代都是要抓紧。其实,对于MTBF值的计算方法,目前常用的性标准主要是MIL-HDBK-217、GJB/Z299B和Bellcore,是用于产品和民用产品中。而MIL-HDBK-217是由美国可靠性分析中心和Rome实验室共同提出并成为行业标准,专门用于产品MTBF值计算,GJB/Z299B是我国标准;而Bellcore是由AT&TBell实验室提出并成为商用电子产品MTBF值计算的行业标准。在中国主要是按照《GB5080.7-1986设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障》的要求来作为依据。磁盘阵列产品的MTBF认证不能低于50000小时。甘肃MTBF认证流程
填写申请表格并提交相关技术文档是办理MTBF认证的必要步骤。甘肃MTBF认证流程
够根据MTBF来计算产品的失效率(Failurerate)吗?答案是:可以故障率(Failurerate):在单位时间内(一般以年为单位),产品的故障总数与运行的产品总数之比叫做故障率,常用λ表示。例如某产品A的MTBF为22万小时。22万小时约为25年,并不是说A产品能工作25年不出故障。因为MTBF=1/λ,所以可以计算出故障率λ=1/MTBF=1/25=4%,即A产品的平均年故障率为4%,一年内,平均100台产品会有4台出故障。MTBF是根据一组数据计算得到的平均数。也就是说,将一组数据生成一个柱状图,其中平均值是MTBF。甘肃MTBF认证流程