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扫描电镜原位加载设备的相关知识点：1.光学显微镜以可见光为介质，电子显微镜以电子束为介质，由于电子束波长远较可见光小，故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率较高只有约1500倍，扫描式显微镜可放大到10000倍以上。2.根据deBroglie波动理论，电子的波长单与加速电压有关。3.扫描式显微镜有一重要特色是具有超大的景深(depthoffield)，约为光学显微镜的300倍，使得扫描式显微镜比光学显微镜更适合观察表面起伏程度较大的样品。CT原位加载设备特点有高温/低温适用于结构对温度敏感的样品分析。上海xTS原位加载系统总代理

SEM原位加载设备的原理：能显示各种图像的信息是由于聚焦的电子束与样品的相互作用而产生的各种信号。相互作用区的线性体积：a.随原子序数的增加而减小；b.随电子束能量的增加而增加；c.电子束与样品的角度关系是倾斜角增加时，相互作用区变小。样品的成分、加速电压都影响相互作用区，一般情况下，相互作用区比束斑大，每种信号从固体发出的空间范围，是决定扫描图像空间分辨能力的重要因素。为了获得较高的信号强度和扫描像（尤其是二次电子像）分辨率，扫描电子束应具有较高的亮度和尽可能小的束斑直径。上海xTS原位加载系统总代理一种能够解决上述一个或几个问题的基于扫描电镜的原位加载装置。

扫描电镜的基本原理是什么？当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时，电子与元素核和外层电子发生一次或多次弹性和非弹性碰撞。一些电子被样品表面反射，而其余电子则穿透样品,逐渐失去动能，在Z后停止运动，被样品吸收。在这个过程中，99%以上的入射电子能量转化为样品热能，剩余约1%的入射电子能量激发样品的各种信号。这些信号主要包括二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、电子电动势、阴极发光、X射线等。扫描电子显微镜设备使用这些信号来获取信息来分析样品。

扫描电镜原位加载技术及其进展：在扫描电镜中组装具有拉伸、压缩、弯曲、剪切等功能的附加加载装置后，可以将加载作用与对材料表面结构的显微观测研究结合起来，甚至与材料的宏观力学性能研究相结合，从而为研究影响材料力学性能的关键因素提供有力支撑。从上世纪60年代末期开始，原位加载扫描电镜技术逐渐成为材料性能研究中的一种重要技术，从而获得了大范围的应用，其中以原位拉伸试验应用较多。在扫描电镜内对环氧树脂CT试样加载，观察分析了裂尖场材料的微观力学行为，结果表明，低速加载时，裂纹的扩展是不连续的，扩展的模式为裂尖张开、钝化和向前扩。裂尖应力应变场内的应变不均匀，在裂尖的正前方和与裂面成35°~40°角处出现高应变区，微损伤在该区域萌生的发展，从而增加材料的裂纹扩展抗力。实现原位加载台的高低温加载等，也将有效扩展此试验系统对材料细观力学性能研究的领域。

原位加载扫描电镜技术与运用：细观实验观测技术是材料细观力学性能研究中的重要手段。由于具有高分辨率、高放大倍数、长景深和对样品处理的要求简单等特点，使得扫描电镜在细观实验力学研究领域占有重要的地位，尤其是与原位加载附件配合后，就可实现材料动态破坏过程细观结构的原位观察技术，对各种材料从各个截面的表面观察和分析增强体、基体的界面形貌及损伤破坏过程，以及它们对宏观力学性能的影响，进而研究细、微观区域内的许多问题，从而为评估和改善材料各细观与微观结构的性能，建立细观力学模型提供依据。在光学显微镜下材料的原位加载实验中，较大挑战在于加载过程产生的离面位移。上海xTS原位加载系统总代理

原位加载扫描电镜技术逐渐成为材料性能研究中的一种重要技术。上海xTS原位加载系统总代理

台式扫描电镜的工作原理：产生一系列电子信息（二次电子、背反射电子、透射电子、吸收电子等），检测器接收各种电子信号，经电子放大器放大后输入到显像管控制的显像管。显像管网格。当聚焦的电子束扫描样品表面时，样品的不同部位具有不同的物理、化学性质、表面电位、元素组成和不均匀的形貌，从而产生不同的电子束激发的电子信息，从而导致电子显像管的光束强度也不断变化，之后在显像管的荧光屏上可以得到与样品表面结构相对应的图像。根据探测器接收到的不同电子信号，可以分别得到样品的背散射电子图像、二次电子图像和吸收电子图像。上海xTS原位加载系统总代理

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