折射率引导型光子晶体光纤耦合系统:这类光纤是由纯石英纤芯和具有周期性空气孔结构的包层组成。由于空气孔的加入,包层与纤芯相比具有较小的有效折射率,即由于石英空气包层的有效折射率小于纤芯的折射率,这种结构...
光子晶体光纤耦合系统按照其导光机理可以分为两大类:折射率导光型(IG-PCF)和带隙引导型(PCF)。带隙型光子晶体光纤耦合系统能够约束光在低折射率的纤芯传播。第1根光子晶体光纤耦合系统诞生于1996...
光纤耦合系统技术分类:光纤耦合系统技术经历了比较长的发展阶段,由以前的不成熟阶段到现在的比较成熟阶段。因为根据实际情况的不同,光纤耦合系统有多种多样的方式来实现。目前总体上来说主要采用分离透镜耦合法和...
硅光芯片耦合测试系统使用到一些有视觉辅助地初始光耦合的步骤是属于耦合工艺的一部分。在此工艺过程中,输入及输出光纤阵列和波导输入及输出端面的距离大约是100~200微米,以便通过使用机器视觉精密地校准预...
组合透镜耦合在许多光纤耦合系统中,常利用柱透镜、球透镜、自聚焦透镜及锥形透镜等多种光学元器件相互组合来提高整体的耦合效率。这样的组合透镜的组合方式多种多样。利用组合透镜这样一种方法可将耦合效率大幅度提...
光学实验平台普遍使用的振动响应传递函数为柔量。在恒定(静态)力的情况下,柔量可以定义为线性或角度错位与所施加外力的比值。在动态变化力(振动)的情况下,柔量则可以定义为受激振幅(角度或线性错位)与振动力...
保偏光纤耦合系统是光纤与光纤之间进行可拆卸(活动)连接的系统件,它是把光纤的两个端面精密对接起来,以使发射光纤输出的光能量能大限度地耦合到接收光纤中去,并使其介入光链路从而对系统造成的影响减到较小。对...
良好的热传导性可起到作用,然而,在极端特殊的应用中,选用不随温度变化而改变外形尺寸的特殊材料是必要的。例如超不胀钢,具有极小的热膨胀系数。一米长的超不胀钢在温度变化1K时膨胀长度约0.2微米。光学平台...
针对不同的硅光芯片结构,我们提出并且实验验证了两款新型耦合器以提高硅光芯片的耦合效率。一款基于非均匀光栅的垂直耦合器,在实验中,我们得到了超过60%的光纤-波导耦合效率。此外,我们还开发了一款用以实现...
光学平台普遍运用于光学、电子、精密机械制造、冶金、航天、航空、航海、精密化工和无损检测等领域,以及其他机械行业的精密试验仪器、设备振动隔离的关键装置中。随着先进的设备和工艺的发展,使纳米量级的测量成为...
光学平台是提供一个水平、稳定的台面,供各种光学组件放置的实验平台。一般平台都需要进行隔振等措施,保证其不受外界因素干扰,使科学实验正常进行。光学平台隔振原理:①系统包括光学台面和隔振腿。可...
相比于传统的折射率传导,光子晶体包层的有效折射率允许芯层有更高的折射率。因此,重要的是要注意到,这些我们所谓的内部全反射光子晶体光纤耦合系统,实际上完全不依赖于光子带隙效应。与TIR-PCFs截然不同...
硅光芯片耦合测试系统中应用到的硅光芯片是将硅光材料和器件通过特殊工艺制造的集成电路,主要由光源、调制器、探测器、无源波导器件等组成,将多种光器件集成在同一硅基衬底上。硅光芯片的具有集成度高、成本低、传...
硅光芯片耦合测试系统系统的测试设备主要是包括可调激光器、偏振控制器和多通道光功率计,通过光矩阵的光路切换,每一时刻在程序控制下都可以形成一个单独的测试环路。光源出光包含两个设备,调光过程使用ASE宽光...
通常,参数测试系统将电流或电压输入被测器件(DUT),然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为:从测试仪通过电缆束至测试头,再通过测试头至探针卡,然后通过探针至芯片上的焊点,到达被测器件,...
探针台主要应用于半导体行业以及光电行业的测试。探针台从操作上来区分有:手动,半自动,全自动。从功能上来区分有:高温探针台,低温探针台,RF探针台,LCD平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台。纵...
硅光芯片耦合测试系统耦合掉电,是在耦合的过程中断电致使设备连接不上的情况,如果电池电量不足或者使用程控电源时供电电压过低、5V触发电压未接触好、测试连接线不良等都会导致耦合掉电的现象。与此相似的耦合充...
测试站包含自动硅光芯片耦合测试系统客户端程序,其程序流程如下:首先向自动耦合台发送耦合请求信息,并且信息包括待耦合芯片的通道号,然后根据自动耦合台返回的相应反馈信息进入自动耦合等待挂起,直到收到自动耦...
硅硅光芯片耦合测试系统中硅光耦合结构需要具备:硅光半导体元件,在其上表面具有发硅光受硅光部,且在下表面侧被安装于基板;硅光传输路,其具有以规定的角度与硅光半导体元件的硅光轴交叉的硅光轴,且与基板的安装...
硅光芯片耦合测试系统应用到硅光芯片,我们一起来了解硅光芯片的市场定位:光芯片作为光通信系统中的中心器件,它承担着将电信号转换成光信号或将光信号转换成电信号的重任,除了外加能源驱动工作,光器件的转换能力...
硅光芯片耦合测试系统系统的测试设备包括可调激光器、偏振控制器和多通道光功率计,通过光矩阵的光路切换,每一时刻在程序控制下都可以形成一个单独的测试环路。其光路如图1所示,光源出光包含两个设备,调光过程使...
伴随着光纤通信技术的快速发展,小到芯片间,大到数据中心间的大规模数据交换处理,都迫切需求高速,可靠,低成本,低功耗的互联。当前,我们把主流的光互联技术分为两类。一类是基于III-V族半导体材料,另一类...
只要在确认耦合不过的前提下,可依次排除B壳天线、KB板和同轴线的故障进行维修。若以上一一排除,则是主板参数校准的问题,或者说是主板硬件存在故障。耦合天线的种类比较多,有塔式、平板式、套筒式,常用的是自...
晶圆探针测试台是半导体工艺线上的中间测试设备,与测试仪连接后,能自动完成对集成电路及各种晶体管芯电参数和功能的测试。随着对高性能、多功能、高速度、低功耗、小型化、低价格的电子产品的需求日益增长,这就要...
硅光芯片耦合测试系统应用到硅光芯片,我们一起来了解硅光芯片的市场定位:光芯片作为光通信系统中的中心器件,它承担着将电信号转换成光信号或将光信号转换成电信号的重任,除了外加能源驱动工作,光器件的转换能力...
对于当今的多芯片(multi-diepackages)封装,例如堆叠芯片级封装(SCSP)或系统级封装(SiP)–开发用于识别已知测试芯片(KTD)和已知良好芯片(KGD)的非接触式(RF)探针对提高...
硅光芯片耦合测试系统使用到一些有视觉辅助地初始光耦合的步骤是属于耦合工艺的一部分。在此工艺过程中,输入及输出光纤阵列和波导输入及输出端面的距离大约是100~200微米,以便通过使用机器视觉精密地校准预...
硅光芯片耦合测试系统系统的服务器为完成设备控制及自动测试应包含有自动化硅光芯片耦合测试系统服务端程序,用于根据测试站请求信息分配测试设备,并自动切换光矩阵进行自动测试。服务器连接N个测试站、测试设备、...
硅光芯片耦合测试系统是比较关键的,我们的客户非常关注此工位测试的严谨性,硅光芯片耦合测试系统主要控制“信号弱”,“易掉话”,“找网慢或不找网”,“不能接听”等不良机流向市场。一般模拟用户环境对设备EM...
尽管半导体测试探针国产化迫在眉睫,但从技术的角度来看,要想替代进口产品却并不容易。业内人士指出,国内半导体测试探针还只能用于要求不高的测试需求,比如可靠性测试国产探针可以替代很多,但功能性测试和性能测...