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一种多通道高精密LCR测试系统，其特征在于，包括与待测产品连接的若干结构相同的的扫描卡、以及与扫描卡相对设置的测量卡，若干所述扫描卡和测量卡通过背部连接板连接，所述扫描卡用于实现通道切换，所述测量卡用于实现LCR测试，所述背部连接板用于实现信号的转接，所述背部连接板连接有主控板，所述主控板用于实现对测量卡以及扫描卡的信号控制；每个所述扫描卡包括扫描CPLD以及通道切换单元，所述扫描CPLD与所述通道切换单元连接，所述扫描CPLD用于接收主控板的信号并控制信号分配，所述通道切换单元通过若干继电器实现对测量通道的切换。TP Sensor多排板测试机生产厂家。河南测试机怎么使用

一种多通道数字输出模块  具体实施方式[0023]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。[0024]需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。河南测试机怎么使用TP Sensor多排板测试机机构。

[0049]如图8所示，网络通讯单元包括芯片U413，具体型号为W5500，芯片U413是一款集成全硬件TCP/IP协议栈的嵌入式以太网控制器，芯片U413的35、34、33、32引脚与主控芯片U100的40、41、34、28引脚对应连接，，芯片U413支持高速标准4线SPI接口与主机进行通信，该SPI速率理论上可以达到80MHz。[0050]在本发明中，进一步的，如图9所示，所述DDS合成单元包括数字频率合成器U501，型号为AD9854ASVZA，所述数字频率合成器U501的输入引脚与所述测量CPLD连接，也就是说数字频率合成器U501的A0至A5、D0至D7引脚与测量CPLD2的37至51引脚连接，所述数字频率合成器U501的输出引脚与所述滤波电路连接。数字频率合成器U501用于实现DDS正弦信号输出，可实现10到1MHZ任意频率的正弦信号，具体输出为PH0O、PH180O、PH270O、PH90O四路正弦信号。

一种多通道高精密LCR测试系统  本发明涉及LCR测试技术领域,公开了一种多通道高精密LCR测试系统,包括与待测产品连接的若干结构相同的的扫描卡、以及与扫描卡相对设置的测量卡,若干所述扫描卡和测量卡通过背部连接板连接,所述扫描卡用于实现通道切换,所述测量卡用于实现LCR测试,所述背部连接板用于实现信号的转接,所述背部连接板连接有主控板,所述主控板用于实现对测量卡以及扫描卡的信号控制。本系统实现多张测量板同步测量,测量板可以任意对应一张扫描板或者对应多张扫描板,应用灵活。高精密多通道电阻测试机。

一种多通道高精密LCR测试系统 [0038]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。[0039]请同时参见图1至图3，本发明一较佳实施方式提供一种多通道高精密LCR测试系统，包括与待测产品连接的若干结构相同的的扫描卡、以及与扫描卡相对设置的测量卡，若干所述扫描卡和测量卡通过背部连接板连接，所述扫描卡用于实现通道切换，所述测量卡用于实现LCR测试，所述背部连接板用于实现信号的转接，所述背部连接板连接有主控板，所述主控板用于实现对测量卡以及扫描卡的信号控制；多通道LCR 测试机生产厂家。河南测试机怎么使用

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[0042]其中，如图15所示，通道切换单元包括若干结构相同的通道切换电路，所述通道切换电路包括与所述通道数量相对应的继电器，所述继电器与所述扫描CPLD连接，以其中一例进行说明，切换电路包括继电器RY600，继电器RY600的1脚接+5VD电源，2脚与扫描CPLD的116脚连接，3脚连接至插排上实现信号的转接，通过扫描CPLD控制继电器继电器RY600两个点位的高低电平，实现对该通道的控制。如此，整个通道切换单元使用高隔离和寄生电容小的继电器，使得整个系统的寄生电容小，提升测量的精度，同时此继电器的切换时间小于1mS使得多通道切换时花费的时间少，提升了测量速度。[0043]在本发明中，进一步的，如图4所示，所述主控板包括MCU模块、测量CPLD、DDS合成单元以及信号测量单元，所述MCU模块与所述测量CPLD连接，所述MCU模块用于控制所述测量CPLD进行LCR测试，所述测量CPLD与所述DDS合成单元电连接，所述测量CPLD用于控制DDS合成单元合成正弦信号，所述DDS合成单元与所述信号测量单元连接，所述信号测量单元用于同步采集所述正弦信号。河南测试机怎么使用

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